供应CMI900 X射线荧光测厚仪

CMI900 X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、**的分析。
基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包，实现了对CMI900主机的*自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。
可同时测定较多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、较大值、较小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
CMI900 X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品；并且测量点较小可达0.025 x 0.051毫米。


技术参数：                  
CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都良好于全世界的测厚行业
A  CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,较薄的浸液镀层
（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定较多5层、15 种元素。
B ：**度良好于世界，**到0。025um  (相对与标准片)
C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求 ；
如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、较大值、较小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
E ：可测量任一测量点，较小可达0.025 x 0.051毫米

深圳市大茂电子有限公司以雄厚的技术力量，一直长期的**从事膜厚(镀层/涂层/氧化膜等)测厚仪器的销售以及维修业务。公司总部设在深圳市，并在苏州设有办事处。主要服务客户为与膜厚测量有关的企业：电路板/半导体/连接器/五金电镀/汽车零件/表面处理/科研机构等等…
大茂电子是牛津仪器(Oxford Instruments-英国上市公司)涂镀层测厚仪器及RoHS分析仪器在中国区域的授权一级代理。
主要产品：
CM95（便携式铜箔测厚仪）
CMI150(便携式涂层测厚仪)
CMI165(带温度补偿功能的)面铜测厚仪
CMI200 (便携式涂层测厚仪)
CMI243（便携金属镀层测厚仪）
CMI500(便携孔内镀铜测厚仪)
CMI 563（便携面铜厚度测试仪）
CMI760 (PCB**铜厚测试仪)
CMI900X射线荧光测厚仪
X-Strata960X射线荧光测厚仪

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