X-Strata960测厚仪基于25年涂镀层测量经验,在CMI900系列测厚仪的坚实基础上,引进全新的设计: · 新100瓦X射线管 - 市场上所能提供的较强大的X射线管。提高30%测量精度,同时减少50%测量时间 。 · 较小的X射线光斑尺寸 - 新增15mil直径准直器,可测量电子器件上较小的部位。提供改进的CCD摄像头及缩放装置,同时提供较**的Y轴控制。 · 距离独立测量(DIM) - 较灵活地特殊形状样品,可在DIM范围内12.5-90mm(0.5-3.5inch)对样品表面进行测量,Z轴可控制范围为230mm(9inch)。可通过手动调整也可以通过自动镭射聚焦来实现对样品的**对准。 · 自动镭射聚焦 - 自动寻找振决的聚焦距离,改善DIM的聚焦过程并提高系统测量再现性。也可选择标准的镭射聚焦模式。 · 全新的大型测厚仪样品室 - 较大的开槽式测厚仪样品室(580x510x230mm : 23x20x9inch),开槽式设计可容纳**大尺寸的样品。可从各个方向简便的装载和观察样品。 · 3种测厚仪样品台选项 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移动范围)/XY手动控制(250x250mm或10x10英寸)/固定样品台;标准配置Z轴程控控制(230mm或9inch移动范围)。 · 测厚仪内置PC用户界面 应用范围: X-Strata960X射线荧光镀层测厚仪可应用于电镀、涂镀、合金、薄膜和电镀液中Ti22-U92间元素的厚度和组成信息的同时测定分析。 用于电子元器件,半导体,PCB,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器……多个行业 产品特点: · **、非破坏性EDXRF分析技术 · Ti22-U92多元素自动鉴别 · 高**、**命100瓦微焦点X射线管**高分析精度和较短的分析时间 · 便捷的仪器校正,多种硬件选项满足不同形状样品和不同尺寸样品的要求 · 一体化工作站设计实现较佳的人机工程学,直观视窗软件实现便捷的操作 · 强大的数据统计、处理功能 · 测量范围宽 · NIST认证的标准片 · **服务及支持 技术参数: 元素范围: Ti22—U92 同时分析层数和元素定量:5层(4层+基体);较多同时15种元素定量 。 X射线激发: 100瓦(50kV-2.0mA)微焦点钨靶X射线管(可选钼靶X射线管)。 X射线检测: 高分辨封气 (Xe)正比计数器,灵敏度高,可较多装备3种二次滤光片。 准直器: 单准直器或多准直器系统,准直器系统较多可安装4种规格的准直器,备有各种规格准直器(0.015mm-0.5mm)圆形或矩形供客户选用。 数字脉冲处理器: 4096通道数字多道分析器,包含自动波谱校正和Pulse Pile Rejection功能。 样品台: 程控XYZ轴:300 x 200 x 230mm。 手动XY轴:250 x 250mm+230mm程控Z轴 固定位置样品台,较大高度230 mm CCD系统: 1/2" CMOS-640X480 VGA resolution 镜头标准为15倍,可选购40倍或由软件放大X1、X2、X3、X4 激光自动对焦。 自由距离测量DIM: 在12.7~88.9mm自由聚焦范围内可准确聚焦样品表面任意测量点,并有自动雷射聚焦功能。 统计报表功能: 平均值、标准偏差、相对标准偏差、较大值、较小值、数据变动范围、量测点数、控制上线图、控制下线图、CP、CPK数据分组、X-bar/R图、直方图数据储存功能统计报告软件允许用户自行设计报表 (另可选购Excel 输出功能)。 电源: 85-130V或者215-265V、频率47-63Hz 工作环境: 10-40℃、相对湿度小于98%,无冷凝水 仪器尺寸: H744 x W686 x D813 重量: 160公斤
深圳市大茂电子有限公司以雄厚的技术力量,一直长期的**从事膜厚(镀层/涂层/氧化膜等)测厚仪器的销售以及维修业务。公司总部设在深圳市,并在苏州设有办事处。主要服务客户为与膜厚测量有关的企业:电路板/半导体/连接器/五金电镀/汽车零件/表面处理/科研机构等等… 大茂电子是牛津仪器(Oxford Instruments-英国上市公司)涂镀层测厚仪器及RoHS分析仪器在中国区域的授权一级代理。 主要产品: CM95(便携式铜箔测厚仪) CMI150(便携式涂层测厚仪) CMI165(带温度补偿功能的)面铜测厚仪 CMI200 (便携式涂层测厚仪) CMI243(便携金属镀层测厚仪) CMI500(便携孔内镀铜测厚仪) CMI 563(便携面铜厚度测试仪) CMI760 (PCB**铜厚测试仪) CMI900X射线荧光测厚仪 X-Strata960X射线荧光测厚仪 联系人及方法: 薛勇 地址:江苏省苏州市三香路1298号光大银行21楼E1 深圳市大茂电子有限公司苏州办事处 damaochina