ADP5034ACPZ-R2 集成电路

深圳市伟格兴电子科技有限公司是一家大型集成电路代理,分销商,公司在深圳.作为的集成电路分销商，我公司拥有丰富经验的IC销售人员，为客户提供全面的服务支持。我公司主要从事美国ADI、MAXIM，TI，ON，ST，FAIRCHILD，ADI，NXP等世界的IC和功率模块 GTR、IGBT、IPM、PIM可控硅 整流桥 二极管等，涵盖通信、半导体、仪器仪表、航天航空、计算机及周边产品、消费类电子等广泛领域。公司多，价格合理。经过我公司全体人员的共同努力， 深圳市伟格兴电子科技有限公司现已成为国有大、中型企业，企业，中小型分销商的可靠合作伙伴，业务遍及中国大陆及海外市场。 我公司在国外拥有直接的货源和存货，与**上享有良好声誉的大量供应商建立了良好的长期合作关系。定货渠道好，周期短，以‘交货快捷、质量保证、价格合理’为服务的宗旨，保证所提供货品均为原包装。 我公司一贯坚持：“品质、服务至上”的发展宗旨以向用户提供系统 免费技术解决方案和满意的服务为己任。我们希望结交更多的合作伙伴，以合理的价格、的服务，与大家共同开创广阔的未来！同时也希望与业界**进行广泛的交流与合作，共同为电子业繁荣发展作出自己的贡献！！！ 
真诚希望与广大客商携手共进！ 
互利合作，共同发展。
ADP5065的充电参数——比如快速充电电流、充电终端电
流和充电终端电压——均可通过I2
C接口编程设置。这种可
编程性使ADP5065能用于多种类型的锂离子电池，同时还
可作为完整的电池充电和测试控制器使用。
电池放电控制和电子负载(E-Load)电路
图2中虚线框内的电子负载(E-load)电路提供了可编程恒流
负载，采用AD8601精密CMOS运算放大器、4个1 W、1%功
率电阻，以及2个功率SIR464 MOSFET。
E-load电流目前由AD8601同相输入端上的控制电压控
制。控制电压(MCU板上的V_DAC)范围为0 V至1 V，产生
的负载电流为0 A至2 A。锂离子电池的典型放电终端电压
为3.0 V。此E-load允许的输出电压小值为：

电路描述
8通道电池测试系统(EVAL-CN0352-EB1Z)包含8个输入/
输出板(EVAL-CN0352-EB1Z_IO)和1个MCU板(EVALCN0352-EB1Z_MCU)，插在1个基板上(EVAL-CN0352-
EB1Z_BAS)。图2所示电路为输入/输出板。
输入/输出板(EVAL-CN0352-EB1Z_IO)描述
使用ADP5065进行电池充电控制
ADP5065处理单个锂离子电池或锂聚合物电池所需的全部
充电控制，包括恒流(CC)模式、恒压(CV)模式和涓流充电
(TC)模式。TC模式可以测试深度放电电池，确保安全性。
ADP5065采用DC-DC开关转换器架构，相比较为传统的线
性稳压器而言，在充电过程中具有很高的效率。
ADP5065集成了多种重要特性来确保高可靠性，包括热管
理、电池故障检测和故障恢复。

高性价比多通道锂离子电池测试系统
评估和设计支持
电路评估板
 CN-0352评估系统(EVAL-CN0352-EB1Z)
 评估系统包括
 EVAL-CN0352-EB1Z_IO(输入/输出板，每套8个)
 EVAL-CN0352-EB1Z_MCU(MCU板，每套1个)
 EVAL-CN0352-EB1Z_BAS(基板，每套1个)
设计和集成文件
 原理图、源代码、布局文件、物料清单
电路功能与优势
图1中的测试系统是一款、高性价比、8通道电池测试
系统，针对单个锂离子(Li-ion)电池，开路电压(OCV)范围
为3.5 V至4.4 V。
对锂离子(Li-ion)电池的需求无论在低功耗或是高功耗应用
中都十分巨大，比如笔记本电脑、手机、便携式无线终
端，以及混合动力汽车/全电动汽车(HEV/EV)。因此，锂
离子电池的测试系统要求可靠。
图1中的电池测试系统由多个处理充电和放电过程的输入/
输出板(EVAL-CN0352-EB1Z_IO)、一个用于电池数据采集、测试、和温度管理的MCU板(EVAL-CN0352-
EB1Z_MCU)，以及一个提供MCU板与多个输入/输出板之
间信号互连的基板(EVAL-CN0352-EB1Z_BAS)组成。
该电路采用ADP5065快速充电电池管理器，具有灵活、高
效、高稳定性充电控制等特性，相比传统分立式解决方
案，该器件成本低、印刷电路板(PCB)占位面积小且易于
使用。
由ADuCM360精密模拟微控制器提供高度集成式精密数据
采集和处理。ADuCM360可以获取电池电压、电流和温
度。高精度模数转换器(ADC)、数模转换器(DAC)和片上
微控制器支持完全立的充电和放电过程。
全差分式模拟**具有高CMRR和出色的共模和接地噪声
(充电和放电周期产生的大电流所导致)抑制能力。
通道数可以轻松扩充，进一步缩短每个电池的测试时间并
降低成本。

基板提供输入/输出板和MCU板之间的连接。用户可以通
过不同的I2
C DEV_ID访问特定输入/输出板上的ADP5065和
ADG715。图7中的逻辑采用ADuCM360的3位通用输入/输
出(GPIO)将SCLK信号路由至适当的输入/输出板。可以增
加更多通道；但是，更多的通道需要较高的ADC采样速
率、较大的MCU RAM尺寸、较快的放电电压刷新速率，以
及较高的上级处理器通信带宽。
电池通道数可以通过增加更多EVAL-CN0352-EB1Z系统扩
展，它们共享一个RS485总线，连接PC。这种情况下，每
一个模块都必须具有范围为1至255的ID。ID0保留。
CN-0352评估软件扫描所有ID并记录各可用ID的ID和通道
编号。注意，RS485总线的波特率将会是使用这种方式时
通道扩展的限制因素。
电路性能测量
系统噪声在电池连接器上测得，测量时将电池电压检测引
脚V+和V−短路(如图3所示)，并测量ADC输出码在2000点
采样间隔期间的峰峰值变化。对电流通道执行类似的测
量。对于温度通道而言，连接10 kΩ固定电阻，而不是热敏
电阻。其结果分别显示在图8、图9和图10中。
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