APM32F003F6P6兼容替代N76E003AT20 量大从优

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外部 CFLT 用于提供充电 CSH 所需的瞬时电流，其必须至少为 20x CSH。一般而言，1nF 较为合适。RFLT 用于阻止驱动运算放大器承受纯电容性负载。这样，RFLT 和 CFLT 构建起一个时间常量为 τ = RFLTCFLT 的 RC 电路。 为了保证所有一切都及时稳定以获得的信号采集，tACQ 必须为 ≥ k τ，其中k = ln(2(N+1))。K 为一个 N 位转换器稳定至 0.5LSB 要求的时间常量值。由此，您可以确定大值 τ，以及 RFLT 的值。

多数情况下，输入噪声越低越好，但在某些情况下，输入噪声实际上有助于实现较高的分辨率。这似乎毫无道理，不过继续阅读本指南，就会明白为什么有些噪声是好的噪声。
折合到输入端噪声（代码跃迁噪声）
实际的ADC在许多方面与理想的ADC有偏差。折合到输入端的噪声肯定不是理想情况下会出现的，它对ADC整体传递函数的影响如图1所示。随着模拟输入电压提高，“理想”ADC（如图1A所示）保持恒定的输出代码，直至达到跃迁区，此时输出代码即刻跳变为下一个值，并且保持该值，直至达到下一个跃迁区。理论上，理想ADC的“代码跃迁”噪声为0，跃迁区宽度也等于0.实际的ADC具有一定量的代码跃迁噪声，因此跃迁区宽度取决于折合到输入端噪声的量代码跃迁噪声的宽度约为1个LSB（低有效位）峰峰值。

目前的高速ADC主要采用了以下两种结构形式。一种是全并行结构，也叫Flash结构。这种结构的ADC至少有2"-1个比较器，例如，一个八位ADC就至少有255个比较器。当ADC分辨率增加时，不仅电路体积庞大，而且功耗猛增，也易出现“火花码’，，因而一般用于分辨率较低的ADC，如六位、八位ADC.另一 种 结 构形式称为分区式结构或折叠式结构，如两步法、多步法。其电路结构主要包含了S/H(或T/H)放大器、Flash A/D转换器、时标电路及数字误差校正电路等。分区式结构ADC克服了纯Flash结构ADC随着分辨率增加，电路体积庞大、功耗猛增的缺点但又带来另一个问题，即差分放大器和其中与*二次转换处理输入电压有关的电路引入的误差，这些误差将**过转换器允许的误差，因此必须引入数字误差校正。

高速ADC(转换时间小于于1uS)
低速的ADC(转换时间大于300uS )
按照精度从低到高：
8位ADC，10位ADC，12位ADC，14位ADC，18位ADC，20位ADC，24位ADC；&oq=8位ADC，10位ADC，12位ADC，14位ADC，18位ADC，20位ADC，24位ADC
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