兰州汽车半导体检测

优尔鸿信检测SMT实验室，多年从事电子元器件检测服务，实验室配备有多种型号的C-SAM、X-RAY、工业CT等无损检测设备，可提供PCB到PCBA各个环节的检测服务。PCB离子浓度测试的主要目的是检测电路板表面的离子污染程度，以评估其清洁度是否满足生产和应用要求。离子污染可能来源于生产过程中的化学物质，这些污染物可能影响电路板的电气性能和可靠性。常测离子包括﹕F-﹑Cl-﹑NO2-﹑Br-﹑NO3-﹑PO43-、SO42-等。PCB板离子浓度的影响：1.高离子浓度可能导致电路板上的导体之间发生短路。如自助焊剂、化学清洗剂或其他生产工艺中的残留物，可能在潮湿环境下形成导电通道，从而引发短路现象。2. 离子污染还可能降低电路板的表面阻抗。表面阻抗是衡量电路板电气性能的重要参数之一。当离子浓度过高时，污染物可能直接腐蚀导体，导致表面阻抗降低。增加电气故障的风险。3. 离子浓度测试还有助于识别不同类型的污染物及其对电气性能的影响。如氯离子、离子等卤素离子含量偏高，这可能是由于波峰焊和回流焊工艺中助焊剂残留导致的。PCB板离子浓度测试参考标准：IPC-TM-650 2.3.28 A 05/04IPC标准中规定了PCB离子浓度的合格标准。具体数值可能因不同类型的PCB而有所差异。BGA是一种高密度表面装配封装技术，在封装底部，引脚都成球状并排列成一个类似于格子的图案，由此命名为BGA,目前主板控制芯片组多采用此类封装技术. 采用BGA技术封装的内存，可以使内存在体积不变的情况下，内存容量提高两到三倍。 尽管BGA器件的性能和组装常规元器件，但BGA封装技术的发展仍受限于BGA焊点的质量和可靠性。BGA焊点检测常用方法:红墨水染色试验:红墨水试验适用于验证印刷电路板上BGA及IC的焊接情况,可以得到BGA焊点内部裂纹分布及裂纹开裂界面的重要信息。切片分析:切片技术主要是一种用于检查电子组件、电路板或机构件内部状况、焊接状况的分析手段。通常采用研磨的方法，使内部结构或缺陷暴露出来。 X-Ray+CT断层扫描 :非破坏性测试，可用于检测BGA焊接焊点开裂、气泡、桥接、少件、空焊等异常线路板切片试验是电子制造行业中一种重要的质量控制和失效分析手段。它涉及到将PCB（印刷电路板）切割成薄片，以便在显微镜下观察其内部结构，从而评估材料、制造工艺和可靠性等方面的问题。这种技术可以提供关于焊接点的质量、层间连接的完整性以及潜在缺陷（如裂纹、空洞等）的重要信息。切片试验的目的评估焊接质量：通过检查焊点的微观结构，可以确定是否存在冷焊、虚焊等问题。检查层间连接：对于多层PCB板而言，确保各层之间正确且牢固地连接至关重要。识别缺陷：包括但不限于裂纹、气孔、夹杂异物等。验证设计与制造规范：确保实际产品符合设计要求和制造标准。切片试验的过程样品选择：根据测试目的选取适当的PCB板作为样本。有时需要对已知故障的区域进行切片，以定位问题所在。预处理：为了便于切割并保护边缘不受损，通常会使用环氧树脂等材料将PCB板固定在一个模具中。切割：使用精密锯或激光切割机沿预定位置切割PCB板。这一过程需要小心，以免造成额外损伤。打磨抛光：切割后的样品需要经过粗磨、细磨和抛光等步骤，直到表面足够平滑，能够清晰地显示内部结构。清洗：去除打磨过程中产生的残留物，确保观察时不被污染。显微观察与分析：利用光学显微镜或扫描电镜对切片进行详细观察，并记录下发现的异常情况。结果分析：基于观察到的现象，识别并分类不同类型的缺陷，如裂纹、空洞、夹杂物，评估缺陷对产品性能和可靠性的影响，并提出改进建议。线路板切片试验是一项综合性的技术，不仅需要高**的操作技巧，还需要深厚的知识作为支撑。通过对这一过程的理解，可以帮助工程师地掌握产品质量状况，及时发现并解决问题，从而提升整体制造水平。FIB 测试工作原理：基于离子源产生的离子束，在电场作用下被加速并聚焦成细束，当高能离子束撞击到目标材料时，与材料原子发生相互作用，导致材料原子的逐层剥离，从而实现的微纳加工。常见的是 FIB-SEM 双束系统，将单束 FIB 与 SEM 技术相结合，不仅能够进行高精度的微纳加工，还能实现分辨率的成像，可同时进行离子束加工和电子束成像，大地扩展了设备的应用范围。FIB测试需知：样品要求：粉末样品应至少 5 微米以上尺寸，块状或薄膜样品的大尺寸应小于 2 厘米，高度小于 3 毫米，且要求导电性良好，如果导电性比较差的话需要进行喷金或喷碳处理。确定测试目的：明确是进行截面分析、芯片修复、TEM 样品制备还是其他，以便确定具体的测试流程和参数设置。FIB测试项目：截面分析：利用 FIB 的溅射刻蚀功能对样品进行的**切割，观察其横截面的形貌和尺寸，并结合元素分析系统对截面成分进行分析，可帮助发现由于材料不均匀分布导致的局部过热等问题。芯片修复与线路修改：能够改变电路连线的方向，诊断并修正电路中的错误，直接在芯片上进行修改，降低研发成本，加快研发速度。TEM 样品制备：可以直接从样品中切取薄膜，用于透射电镜（TEM）的研究，缩短了样品制备的时间，提高了制样的度和成功率。纳米器件的制造：能够在器件表面进行纳米级别的加工，对于纳米电子器件的制造和研究具有重要意义。材料鉴定：可利用遂穿对比图像进行晶界或晶粒大小分布的分析，也可加装能谱仪（EDS）或二次离子质谱仪（SIMS）进行元素组成分析。FIB相关设备：扫描电子显微镜（SEM）：利用电子束扫描样品表面，产生二次电子、背散射电子等信号成像，可观察半导体器件的表面形貌、微观结构和缺陷，如裂纹、孔洞、短路、开路等。其分辨率较高，能对失效部位进行初步定位和观察，还可结合能谱仪（EDS）进行元素分析，确定是否存在杂质或异常元素分布。透射电子显微镜（TEM）：通过电子束穿透样品形成图像，可提供半导体器件内部原子级别的结构信息，对于分析晶体结构、位错、界面缺陷等有效，常用于研究半导体材料的微观结构和缺陷对器件性能的影响。但 TEM 对样品制备要求高，需要制备出薄的样品。原子力显微镜（AFM）：通过检测探针与样品表面之间的相互作用力来成像，可在纳米尺度上观察半导体器件的表面形貌、粗糙度、力学性能等，还能进行局部电学、磁学等特性的测量，对于研究半导体器件的表面物理和化学性质以及纳米尺度下的失效机制具有重要作用。优尔鸿信检测以客户为中心，为客户提供全面的PCB板检测服务。实力：隶属于世界**企业；正规：于2003年获得CNAS初次认可，2018年获得CMA资质；精益求精：验室采用全进口设备，确保数据准确性；快速：3工作日完成报告，打破业内规则；经验丰富：长期从事电子产品及零部件检测服务。PCB板表面绝缘阻抗测试是一种用于评估PCB板表面绝缘性能的检测方法。在PCB的制造和组装过程中，由于绝缘层的质量对于防止电气故障具有至关重要的作用，因此它被广泛应用于电子制造、通信和电源电子设备等多个领域。

优尔鸿信检测技术（深圳）有限公司旗下的成都检测中心（华南检测中心成都分支）成立于1996年，配合高科技电子产品设计、验证、生产过程的检测需求组建科技实验室，创始团队汇集科技精英、凭借雄厚的技术背景和开拓创新精神，在一张白纸上点石成金。华南检测中心迄今发展成目**大功能22个专业的实验室，主要检测设备4300余台（套），拥有1500人的管理、技术人员团队，打造了一个提供快速、精密、准确检测能力、服务网络遍及全国的大型旗舰实验室。于2003年**中国国家合格评定**（CNAS）的初次认可，检测能力获得苹果、戴尔、惠普等**客户的认可，实现［一份报告、**通行］。 检测业务主要分为：尺寸量测与3D工程、仪器校准、材料分析（金属、塑料）、有害物质检测、电子零组件失效分析、物流包装测试、可靠性分析（气候、机械）、仿真分析、热传测试、声学测试、食材检测（微生物、理化检测）、儿童玩具测试、汽车材料及零部件检测、产品认证等。