供应CMI900

CMI900（X荧光镀层测厚仪）

应用

CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的

情况下进行表面镀层厚度的测量  ，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。

行业

用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器……多个行业表面镀层厚

度的测量。

技术参数

主要规格                           规格描述
 
X射线激发系统                   垂直上照式X射线光学系统
 
                                       空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
 
                                       标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
 
                                       功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准

                                        75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选
 
                                       装备有*防射线光闸
 
                                       二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片

                                       任选
 
准直器程控交换系统            较多可同时装配6种规格的准直器
 
                                       多种规格尺寸准直器任选：

                                       －圆形，如4、6、8、12、20 mil等

                                       －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

测量斑点尺寸                     在12.7mm聚焦距离时，较小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055mm

                                       (使用0.025 x 0.05 mm准直器)
 
                                       在12.7mm聚焦距离时，较大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm

                                       (使用0.3mm准直器)
 
样品室

－样品室结构                      开槽式样品室
 
－较大样品台尺寸                610mm x 610mm
 
－XY轴程控移动范围            标准：152.4 x 177.8mm
                                        还有5种规格任选
 
－Z轴程控移动高度               43.18mm
 
－XYZ三轴控制方式              多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、

                                         XYZ三轴手动控制
 
－样品观察系统                    高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。

                                         （50倍和100倍观察系统任选。）

                                          激光自动对焦功能

                                         可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
 
计算机系统配置                    IBM计算机

                                         惠普或爱普生或佳能彩色喷墨打印机
 
分析应用软件                       操作系统：WindowsXP(OEM)中文平台

分析软件包：                       SmartLink FP软件包
 
－测厚范围                          可测定厚度范围：取决于您的具体应用。
 
－基本分析功能                   采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准

                                         样品。
 
样品种类：                          镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
 
                                         可检测元素范围：Ti22 – U92
 
                                         可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
 
                                         贵金属检测，如Au karat评价
 
                                         材料和合金元素分析，
 
                                         材料鉴别和分类检测
 
                                         液体样品分析，如镀液中的金属元素含量
 
                                         多达4个样品的光谱同时显示和比较
 
                                         元素光谱定性分析
 
－调整和校正功能                 系统自动调整和校正功能，自动*系统漂移
 
－测量自动化功能                 鼠标*测量模式：“Point and Shoot”
 
                                         多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式和重复

                                         测量模式
 
                                         测量位置预览功能
 
                                         激光对焦和自动对焦功能
 
－样品台程控功能                 设定测量点
 
                                         连续多点测量
 
                                         测量位置预览
 
－统计计算功能                    平均值、标准偏差、相对标准偏差、较大值、较小值、数据变动范围、

                                         数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图
 
                                         数据分组、X-bar/R图表、直方图
 
                                         数据库存储功能
 
                                         任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
 
－系统*监测功能              Z轴保护传感器
 
                                         样品室门开闭传感器
 


●精度高、稳定性好 


●强大的数据统计、处理功能 


●测量范围宽 


●NIST认证的标准片 


●**服务及支持

公司简介：深圳市大茂电子有限公司以雄厚的技术力量,一直长期的**从事膜厚(镀层/涂层/氧化膜等)测试仪器的销售业务.主要服务客户为与膜厚测量有关的企业:电路板/半导体/连接器/五金电镀/汽车零件/表面处理/科研机构等等…大茂电子是牛津仪器(Oxford Instruments-英国上市公司)CMI测厚仪器及RoSH测试仪器产品在中国区的授权一级代理.您的任何膜厚测量问题,均可从大茂电子**的销售应用工程师获得良好的解决方案,我们将为您提供较佳性价比的测试仪器.,**提供**/良好/多方位的售后服务,任何牛津仪器的CMI测厚仪器, 均可从大茂电子得到及时的解决