供应铜厚测试仪

CMI760(PCB**铜厚测试仪)

     牛津仪器测厚仪器CMI 760专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计。

     CMI 760可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统能采用微电阻和电涡

流两种方法来达到对表面铜和穿孔内铜厚度准确和**的测量。CMI 760台式测量系统具有非常高的多

功能性和可扩展性，对多种探头的兼容使其满足了包括表面铜、穿孔内铜和微孔内铜厚度的测量、以及

孔内铜质量测试的多种应用需求。同时CMI 760具有**的统计功能用于测试数据的整理分析。

CMI 760配置包括：

--CMI 760主机 

--SRP-4探头 

--SRP-4探头替换用探针模块（1个） 

--NIST认证的校验用标准片

选配配件：

--ETP探头 

--TRP探头 

--SRG软件

SRP-4面铜探头测试技术参数：

--铜厚测量范围：

--化学铜：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm)

--电镀铜：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)

--线形铜可测试线宽范围：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)

--准确度：±1% (±0.1 μm)参考标准片

--**度：化学铜：标准差0.2 %；电镀铜：标准差0.5 %

--分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil, 

              0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm

ETP孔铜探头测试技术参数：

--可测试较小孔直径：35 mils (899 μm) 

--测量厚度范围：0.08 – 4.0 mils (1 – 102 μm)

--电涡流原理：遵守ASTM-E376-96标准的相关规定

--准确度：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)

--**度：1.2 mil（30μm）时，达到1.0% （实验室情况下）

--分辨率：0.01 mils (0.1μm)

TRP-M（微孔）探头测试技术参数：

--较小可测试孔直径范围：10 – 40 mils (254 – 1016 μm)

--孔内铜厚测试范围：0.5-2.5mils（12.7-63.5μm）

--较大可测试板厚：175mil （4445 μm）

--较小可测试板厚：板厚的较小值**比所对应测试线路板的较小孔孔径值高3mils(76.2μm)

--准确度（对比金相检测法）：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)

                                         ±10%≥1mil(25 μm)

--**度：不建议对同一孔进行多次测试 

--分辨率：0.01 mil(0.1 μm)

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--显示                6位LCD数显


--测量单位          um-mils可选 


--统计数据          平均值、标准偏差、较大值max、较小值min


--接口                232串口,打印并口


--电源                AC220


--仪器尺寸          290x270x140mm


--仪器重量          2.79kg

 

公司简介：深圳市大茂电子有限公司以雄厚的技术力量,一直长期的**从事膜厚(镀层/涂层/氧化膜等)测试仪器的销售业务.主要服务客户为与膜厚测量有关的企业:电路板/半导体/连接器/五金电镀/汽车零件/表面处理/科研机构等等…大茂电子是牛津仪器(Oxford Instruments-英国上市公司)CMI测厚仪器及RoSH测试仪器产品在中国区的授权一级代理.您的任何膜厚测量问题,均可从大茂电子**的销售应用工程师获得良好的解决方案,我们将为您提供较佳性价比的测试仪器.,**提供**/良好/多方位的售后服务,任何牛津仪器的CMI测厚仪器, 均可从大茂电子得到及时的解决