EMMI显微镜-广西显微镜-苏州特斯特电子

芯片失效分析步骤:

1、非破坏性分析：主要是超声波扫描显微镜（C-SAM）--看有没delamination，xray--看内部结构，等等；

2、电测：主要工具，万用表，示波器， tek370a

3、破坏性分析：机械decap，红外显微镜，化学 decap芯片开封机

4、半导体器件芯片失效分析 芯片内部分析，孔洞气泡失效分析。

苏州特斯特电子科技有限公司，主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务，产品涵盖电子元器件，广西显微镜，电路板，线缆线束的测试与检测。

EMMI侦测的到亮点、热点(Hot Spot)情况；原来就会有的亮点、热点(Hot Spot)饱和区操作中的BJT或MOS(Saturated Or Active Bipolar Transistors /Saturated MOS)动态式CMOS (Dynamic CMOS)二极管顺向与逆向偏压崩溃 (Forward Biased Diodes /Reverse Biased Diodes Breakdown)侦测不到亮点情况不会出现亮点的故障奥姆或金属的短路(Ohmic Short / Metal Short)亮点被遮蔽之情况埋入式接面的漏电区(Buried Juncti)金属线底下的漏电区(Leakage Sites Under Metal)

其实利用在检测芯片的过程当中，EMMI显微镜，其实这种方法是非常有效的，关于emmi分析国内目前的技术通常已经达到了要求，在对芯片进行检测过程当中，超声扫描显微镜，利用微光显微镜它的效果通常是非常明显的。比如说如果说亮点被遮掩的过程当中采用的是利用境外红波的发光，通过抛光的处理来进行探测，这样才能够有效的去发现金属归沉寂的有效缺陷。

EMMI显微镜-广西显微镜-苏州特斯特电子由苏州特斯特电子科技有限公司提供。苏州特斯特电子科技有限公司是一家从事“失效分析设备,检测服务,检测仪器”的公司。自成立以来，我们坚持以“诚信为本，稳健经营”的方针，勇于参与市场的良性竞争，使“特斯特”品牌拥有良好口碑。我们坚持“服务至上，用户至上”的原则，使苏州特斯特在分析仪器中赢得了客户的信任，树立了良好的企业形象。 特别说明：本信息的图片和资料仅供参考，欢迎联系我们索取准确的资料，谢谢！

苏州特斯特电子科技有限公司，主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务，产品涵盖电子元器件，电路板，线缆线束的测试与检测。设备主要来自于欧美日等**测试设备制造国家。其前身为苏州兰博斯特电子科技有限公司，公司成立于2015年。近些年来，我们为航天，航空，高铁，汽车，新能源等行业的科研院所提供了诸多**的测试与检测设备。为较好的服务客户，我们还提供无损检测，如CT，焦点射线，超声扫描等，我们也提供电路板的飞针测试服务。我们的客户主要合作客户有中国航天科技集团、中航集团、中国电科、中国中车、科学院等下属科研单位，还有汽车电子，消费电子等企业客户。期待与您携手共同创造较美好的未来！