无损检测技术--SAM将scanning acoustic microscope(SAM)用于IC的封装扫描检测,可以在不损伤封装的情况发现封装的内部缺陷。由于在很多时候不能打开封装来检查,即使打开很可能原来的缺陷已经被破坏。利用超声波的透射、反射特性可以很好解决这个问题。超声波在不同介质中的传播速率不同。
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半导体常用失效分析检测仪器;
显微镜分析OM无损检测
金相显微镜OM:可用来进行器件外观及失效部位的表面形状,尺寸,结构,缺陷等观察。金相显微镜系统是将传统的光学显微镜与计算机(数码相机)通过光电转换有机的结合在一起,红外显微镜系统,不仅可以在目镜上作显微观察,还能在计算机(数码相机)显示屏幕上观察实时动态图像,电脑型金相显微镜并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。金相显微镜可供研究单位、冶金、机械制造工厂以及高等工业院校进行金属学与热处理、金属物理学、炼钢与铸造过程等金相试验研究之用,实现样品外观、形貌检测 、制备样片的金相显微分析和各种缺陷的查找等功能。
为解决生产生活中的实际问题,超声波扫描显微镜应运而生,红外显微镜厂商,它可为许多成像提供的解决方案,超声波扫描显微镜与普通的光学显微镜有着极大的差异,从工作原理上来说,它带有聚焦功能的高频超声波换能器,业内也将超声波扫描显微镜的工作方式称为逐点扫描,是对于材料内部的检测,红外显微镜,它的成像图像是内部结构图像,纳米级的分辨率要周边产品,下面小编就详细的为您介绍一下超声波扫描显微镜与普通的光学显微镜的差距。![]()
红外显微镜-苏州特斯特公司-红外显微镜厂家由苏州特斯特电子科技有限公司提供。苏州特斯特电子科技有限公司是一家从事“失效分析设备,检测服务,检测仪器”的公司。自成立以来,我们坚持以“诚信为本,稳健经营”的方针,勇于参与市场的良性竞争,使“特斯特”品牌拥有良好口碑。我们坚持“服务至上,用户至上”的原则,使苏州特斯特在分析仪器中赢得了客户的信任,树立了良好的企业形象。 特别说明:本信息的图片和资料仅供参考,欢迎联系我们索取准确的资料,谢谢!
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