澎湃微PT32F003/F005功能介绍

3、澎湃微PT32F003/F005功能介绍 
3.1 内核
澎湃微PT32F003/F005 系列采用 ARM Cortex-M0 内核。 
外设总线与内核时钟频率互相独立。 
优先级控制的中断嵌套响应机制。 
3.2 存储器
澎湃微PT32F003 支持 16Kbyte Flash, PT32F005 支持 32Kbyte Flash。 
澎湃微PT32F003/F005 支持 2Kbyte RAM。 
支持 DataFlash，与 Flash 共享。 
支持 BootLoader，Boot loader 大小可以配置，大小分别为 1.5/2.5/3.5K，F003 的 Bootloader不占用 Flash 资源，而 F005 需要占用 Flash 资源。 
3.3 时钟
内置高速 RC 振荡器时钟支持 24MHz，经过出厂校准后，25℃时精度±1%，-40~85℃时精度为±1.5%。 
内置低速 RC 振荡器时钟支持 32KHz，精度±10%，可供看门狗、时钟监测模块使用。 
2 倍频时钟：时钟频率 64kHz~48MHz。时钟源可以为内部低速 RC 振荡时钟（时钟频率为 
32kHz）或者内部高速 RC 振荡时钟（时钟频率为 24MHz）。 
分频器时钟：高速时钟的 1~32 分频（整数分频）时钟。 
外设时钟和 CPU 时钟独立。 
3.4 功耗模式 
澎湃微PT32F003/F005 有如下3种工作模式，正常工作模式、休眠模式和深度休眠模式。其中休眠 
模式和深度休眠模式为低功耗模式。 
普通睡眠模式（SLEEP）下，所有中断均可唤醒系统。 
深度睡眠模式（DEEPSLEEP）下，提供多种唤醒源（IO 唤醒、外部复位唤醒、独立看门狗唤醒、调试模式请求）。 
深度睡眠时功耗 3μA。
3.5 ADC
澎湃微PT32F003/F005 支持 12 位 SAR ADC。 
变化速500Ksps。 
8 路外部 GPIO 通道输入。 
支持单次转换（single mode）/连续转换（continuous scan mode）。 
支持外部 I/O 触发一次转换（上升沿，下降沿，任意电平切换）。 
支持内部定时器定时触发一次转换。 
参考电压源为内部参考电压 VDDA。 
3.6 I2C
支持1路I2C。 
支持主/从模式。 
支持标准速率（100Kb/s）、快速速率（400Kb/s）。 
3.7 SPI 
支持1路SPI。 
支持主/从模式。 
支持标准 SPI 接口，速率支持 Fsys/2。 
3.8 UART 
支持2路 UART。 
支持波特率可编程。 
其中1个固定支持 38KHz 低功耗红外发送调制。 
所有串口支持单线通讯模式。 
支持数据单线半双工收发，提供 2/4/8/16/32/64/128 外设分频时钟输出。 
3.9 GPIO
提供 17 个 IO 口，另外一个 IO 与复位脚复用，可以做为输入。 
每个 GPIO 口均可提供外部中断并用于唤醒系统。 
支持弱上拉（下拉）功能，上拉（下拉）电阻为 50kΩ。 
支持 source 电流为 8mA/16mA、sink 电流为 10mA/20mA 可选。 
支持开漏功能。 
支持模拟模式（作为 ADC 输入）。
3.10 定时器 
3.10.1 系统定时器 
1 个 24 位系统定时器（M0 内核自带）。 
3.10.2 高级定时器 
1 个 16 位高级定时器， timer1。 
支持 16 位预分频。 
支持 16 位递增计数，递减计数，递减递增交替计数。 
支持 4 路输入捕捉，4 路比较输出。 
输入捕捉支持上升沿捕捉，下降沿捕捉，上升沿至下降沿捕捉，下降沿至上升沿捕捉 
支持互补 pwm 输出。 
支持输入中断，输出中断和溢出中断。 
可用于触发 ADC 转换。 
3.10.3 普通定时器 
2 个 16 位普通定时器，timer2 & timer3。 
支持 8 位预分频。 
支持 16 位递增计数，递减计数。 
可用于触发 ADC 转换。 
3.10.4 WDT 
独立看门狗，32 位递减计数，使用内部低速振荡 32kHz 时钟作为计数时钟。 
3.11 LVD
当电压低于安全值时，输出中断或复位。 
触发阈值支持：4.0V、3.5V、2.75V、2.2V、1.7V。 
3.12 CID&UID
支持 32 位 CID。 
支持 96 位 UID。
3.13 CRC 
支持 CRC16。 
3.14 SWD 
包含硬件调试电路，支持 2-pin 的 SWD 调试。

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