全自动芯片半导体测试-湖北芯片半导体测试-德普福

无线射频识别系统的读写距离是一个很关键的参数。长距离无线射频识别系统的价格还很贵，因此寻找提高其读写距离的方法很重要。影响射频卡读写距离的因素包括天线工作频率、阅读器的RF输出功率、阅读器的接收灵敏度、射频卡的功耗、天线及谐振电路的Q值、天线方向、阅读器和射频卡的耦合度，湖北芯片半导体测试，以及射频卡本身获得的能量及发送信息的能量等。大多数系统的读取距离和写入距离是不同的，芯片半导体测试技术，写入距离大约是读取距离的40%～80%。

有源RFID技术（2.45GHz、5.8GHz）有源RFID具备低发射功率、通信距离长、传输数据量大，芯片半导体测试工厂，可靠性高和兼容性好等特点，与无源RFID相比，在技术上的优势非常明显。被广泛地应用到公路收费、港口货运管理、人员位置管理等应用中。但是使用此频段具有很强的方向性，并且在接收区域内如有金属物体的话，金属物体对该频段的射频会产生折射和反射，从而影响射频的信号读写。

低频系统一般指其工作频率小于30MHz，典型的工作频率有：125KHz、225KHz、13.56MHz等，这些频点应用的射频识别系统一般都有相应的标准予以支持。其基本特点是电子标签的成本较低、标签内保存的数据量较少、阅读距离较短（无源情况，典型阅读距离为10cm）电子标签外形多样（卡状、环状、钮扣状、笔状）、阅读天线方向性不强等。

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