冷热冲击试验箱
高低温冲击试验箱主要应用于半导体器件、电子产品和其他设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验。
立式两箱结构,高低温箱循环过程自动控制,停留及转换时间可调,不锈钢内胆,多形式记录,设有多种安全保护措施及装置。
满足MIL-STD-810D方法032、GB2423.22-89Na、GJB1505-86等。
执行与满足标准
.GJB150.5-86温度冲击试验
.GB2324.22-89试验Na
.GB2423.1-89试验A低温试验方法
.GB2423.2-89试验B高温试验方法
.GJB360.7-87温度冲击试验
.GJB367.2-87温度冲击试验
适用范围
主要用于电工、电子产品、材料及各种零部件的高低温冲击试验和周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验。
基本特点
.内胆采用不锈钢板、外壳采用冷轧钢板静电粉末喷涂
.中空电热膜玻璃观察窗
.两箱式上下结构:上部为高温箱,下部为低温箱,两箱之间由样品架连结,经传动机构在两箱间移动。循环过程自动控制,停留及转换时间可调。
.工作室设有照明装置
.具有累计计时功能
.采用进口可编程程序控制器
.完善的保护报警功能:具有短路、漏电、工作室超温;压缩机超压、过载、油压、断水
标准配置及选配件
.标准配件:50测试孔、照明灯、观察窗、记录仪
.可选配件:RS232(RS485)通讯接口及计算机、打印机
冷热冲击试验又名冷热冲击试验或高低温冲击试验,是将试验样品交替暴露于低温和高温空气(或合适的惰性气体)中,使其经受温度变化的影响。用以确定元件,设备和其他产品经受环境温度迅速变化的能力。温度冲击试验是用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性,是装备设计定型的试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验,在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验。可以说冷热冲击试验箱在验证和提高装备的环境适应性方面应用的频度仅次于振动与高低温试验。
温度冲击试验参考标准:
GB/T 2423.22; IEC 60068-2-13;IEC 60068-2-14; EIA-364-32; MIL-STD-202;GJB 150.5等。
温度冲击试验的目的:
1、工程研制阶段可用于发现产品的设计和工艺缺陷;
2、产品定型或设计和批产阶段验收决策提供依据;
3、作为环境应力筛选应用时,目的是剔除产品的早期故障。
温度冲击试验应用领域:
道路交通类:道路车辆电子电气设备、轨道交通机车车辆设备与装置、汽车零部件等
计算机类:电脑、显示屏、主机、电脑元器件、设备等精密仪器等
电子通信类:手机、射频器、电子通信元器件等,PCB、PCBA。
电器类:家电、灯具、变电器等各类家电电器设备、仪器仪表、器械;
其他:包装箱、运输设备等。
设备型号:CJ602S3 Ⅰ
试验温度范围:-75℃~200℃
高温设定范围:+60℃~+200℃
低温设定范围:0℃~-75℃
温变速率:≤5Min
冷热冲击测试
温度变化类试验项目有众多名称:
温度变化、温度循环、温度交变、温变、温度冲击、冷热冲击、温度梯度、分级温度等名称。且不同体系的标准中应用的试验方法是不同的,如何区分这些试验项目,如何选择试验项目,这需要对各类型试验的来源以及其区别进行分析。
冷热冲击试验有两种方式:气体法和液体法
气体法有两种实现方式,一种为手动转换,将产品在高温箱和低温箱之间进行转换;另一种为冲击试验箱,通过开关冷热室的循环风门或其它类似手段实现温度转换。其中温度上限、温度下限为产品的存储极限温度值。液体法实现方式为吊篮式,将产品放置在吊篮中按照要求浸入不同的温度液体中。则适用于玻璃-金属密封及类似产品。
冷热冲击试验是一个加速试验,模拟车辆中大量的慢温度循环。对应实际车辆温度循环,用较快的温度变化率及更宽的温度变化范围,加速是可行的。失效模式为因老化和不同的温度膨胀系数导致的材料裂化或密封失效。本试验将导致机械缺陷(裂缝),不要求带电工作。
在特定时间内进行温度变化,转换时间一般设定为手动2~3 分钟,自动少于30 秒,小试件则少于10 秒。常用术语中的温度冲击试验也属于冷热冲击试验。
此试验有几个重要参数需要考虑:循环数、温度转换时间、温度保持时间、温度极限值(因此项试验为存储类试验,故其极限值为存储极限温度值)。参考参数设置如表所示,具体的循环数来源为加速模型计算出来的一个经验数值。
参考标准
GB/T2423.22环境试验 2部分:试验方法 试验N:温度变化
GJB150.5设备环境试验方法_温度冲击试验
GJB360.7电子及电气元件试验方法 温度冲击试验
GJB367.2通信设备通用技术条件 环境试验方法
热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业必备的测试设备,用于测试材料结构或复合材料,在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下忍受的程度,得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物伤害。
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