• Plasma2000 国产国产ICP-MS 电感耦合等离子体质谱仪

    Plasma2000 国产国产ICP-MS 电感耦合等离子体质谱仪

  • 2021-11-03 09:32 26
  • 产品价格:面议
  • 发货地址:北京市海淀区海淀街道包装说明:不限
  • 产品数量:不限产品规格:不限
  • 信息编号:75347392公司编号:4230171
  • 郑娟 经理
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    产品描述
    **SMAMS 300 测量的是等离子体中带一价正电荷的离子的数目。ICP 的条件需要优化,以
    程度地形成一价正离子,同时尽可能减少多电荷离子的形成和多原子分子的形成。这些一 价离子在等离子体处产生,然后通过采样锥进入透镜系统,之后质谱仪中根据离子的质量
    数将其分离(严格意义上说是根据质荷比),分离完成以后离子才到达检测器。
    **SMAMS 300系统分为4个功能单位。为了使仪器的性能达到,建议操作者必须对这四个 部分进行分别优化。
    1. 进样系统Sample Introduction –包括等离子体源,大气压条件下在ICP处产生各种元素 的离子。
    2.接口系统和离子透镜系统 –接口系统对离子源进行采样,将其引入真空环境,并通过一 系列的电子透镜对离子进行聚焦。
    3.杆 –质量筛选是通过杆进行的,按照质荷比筛选。从大气压到这个真空度的抽真空时间大约是~15min(在未拆开箱盖的情况下)。
    4.检测器 –离子被杆分离以后,达到检测器时进行计数。 如果用户更换检测器,需要 过夜抽真空进行检测器脱气。 离子束在每个功能模块中的运动我们在后续中都会介绍,接下的个就会介绍 进样系统。
    Plasma2000 国产国产ICP-MS
    质谱干扰主要分为以下两类:
    1.多原子干扰(Polyatomic) – 与目标同位素原子质量重合的多原子离子,所带来的干扰
        解决办法:1、参数调谐:载气、采样深度等
                         2、使用碰撞反应池技术
    2. 同量异位素干扰(Isobaric) –与目标同位素原子具有相同质量数的原子带来的干扰(目标 原子与干扰原子的质子数和中子数都不同,但(质子数+中子数)相同);也包括质荷比相等 的不同元素离子形成的干扰。
        解决办法:选择合适的同位素
    Plasma2000 国产国产ICP-MS
    ICP-MS分析流程的建立
    对于一种新基体的样品来说,常规的分析路径如下:
    1.  酸化或溶解样品 样品一般需要行酸化溶解使目标元素溶解在液体中.
    2.  选择目标分析物和目标同位素 根据浓度范围来选择分析物和同位素。
    3.  行扫描以便识别出存在的干扰
    可以行半定量扫描,可以通过半定量扫描判断大致存在哪些元素以及各个元素 的大致浓度范围。
    4.   选择数据的采集模式以及校正曲线的类型 一般如果使用连续流的数据采集模式,会使用外标定量法。也有其他的数据评估方
    法可以使用。
    5.  选择合适的内标元素 内标元素的使用可以校正由于时间或基体抑制效应引起的信号漂移。
    6.  能进行基体匹配
    将标样的基体匹配到和您的样品基体完全一致,可以将两者之间的差异减小到小, 并且有助于得到较为准确的结果数据。
    7.  进行质量控制校正(QC check)
    在分析过程中插入另一来源的标样(2nd  Source Standard)或者有证标准物质 (Certified Reference Material),确保数据的完整性。
    Plasma2000 国产国产ICP-MS
    PlasmaMS 300的各项参数都需要进行优化,以便获得稳定的数据分析结果,这些参数包括:
    • 样品引入
    • ICP炬管
    • 接口
    • 透镜
    • 杆
    • 检测器
    一般来说,参数优化的目的都是为了获得目标同位素的灵敏度。在下面的中我们 会详细介绍,灵敏度在整个优化过程中扮演了主要的角色,但是除了灵敏度以外,其他 因子也需要引起您的注意,必须综合考虑,后才能得到恒定又可靠的**SMAMS 300结果数据。
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