冷热冲击测试
温度变化类试验项目有众多名称:
温度变化、温度循环、温度交变、温变、温度冲击、冷热冲击、温度梯度、分级温度等名称。且不同体系的标准中应用的试验方法是不同的,如何区分这些试验项目,如何选择试验项目,这需要对各类型试验的来源以及其区别进行分析。
冷热冲击试验有两种方式:气体法和液体法
气体法有两种实现方式,一种为手动转换,将产品在高温箱和低温箱之间进行转换;另一种为冲击试验箱,通过开关冷热室的循环风门或其它类似手段实现温度转换。其中温度上限、温度下限为产品的存储极限温度值。液体法实现方式为吊篮式,将产品放置在吊篮中按照要求浸入不同的温度液体中。则适用于玻璃-金属密封及类似产品。
冷热冲击试验是一个加速试验,模拟车辆中大量的慢温度循环。对应实际车辆温度循环,用较快的温度变化率及更宽的温度变化范围,加速是可行的。失效模式为因老化和不同的温度膨胀系数导致的材料裂化或密封失效。本试验将导致机械缺陷(裂缝),不要求带电工作。
在特定时间内进行温度变化,转换时间一般设定为手动2~3 分钟,自动少于30 秒,小试件则少于10 秒。常用术语中的温度冲击试验也属于冷热冲击试验。
此试验有几个重要参数需要考虑:循环数、温度转换时间、温度保持时间、温度极限值(因此项试验为存储类试验,故其极限值为存储极限温度值)。参考参数设置如表所示,具体的循环数来源为加速模型计算出来的一个经验数值。
参考标准
GB/T2423.22环境试验 2部分:试验方法 试验N:温度变化
GJB150.5设备环境试验方法_温度冲击试验
GJB360.7电子及电气元件试验方法 温度冲击试验
GJB367.2通信设备通用技术条件 环境试验方法
冷热冲击试验又名温度冲击试验或高低温冲击试验,是用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性,是装备设计定型的鉴定试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验,在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验。可以说冷热冲击试验箱在验证和提高装备的环境适应性方面应用的频度仅次于振动与高低温试验。
冷热冲击试验作为一种测试方法,应用在产品研制的不同阶段时有不同的目的:
1、工程研制阶段可用于发现产品的设计和工艺缺陷;
2、产品定型或设计鉴定和批产阶段验收决策提供依据;
3、作为环境应力筛选应用时,目的是剔除产品的早期故障。
冷热冲击测试常见的执行标准
1、GJB 150《设备环境试验方法》
2、GB 2423《电工电子产品基本环境试验规程》
冷热冲击测试的用途是什么
冷热冲击试验又名温度冲击试验或高低温冲击试验,是用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性,是装备设计定型的鉴定试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验,在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验。可以说冷热冲击试验箱在验证和提高装备的环境适应性方面应用的频度仅次于振动与高低温试验。
冷热冲击试验作为一种测试方法,应用在产品研制的不同阶段时有不同的目的:
1、工程研制阶段可用于发现产品的设计和工艺缺陷;
2、产品定型或设计鉴定和批产阶段验收决策提供依据;
3、作为环境应力筛选应用时,目的是剔除产品的早期故障。
常见的执行标准
1、GJB 150《设备环境试验方法》
2、GB 2423《电工电子产品基本环境试验规程》
产品用途 :
冷热冲击试验箱又名高低温冲击试验箱,冷热循环试验箱;用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具
执行满足标准及试验方法
GJB150.5 温度冲击试验
GJB360.7温度冲击试验
GB/2423.22 温度冲击试验
冷热冲击试验又名冷热冲击试验或高低温冲击试验,是将试验样品交替暴露于低温和高温空气(或合适的惰性气体)中,使其经受温度变化的影响。用以确定元件,设备和其他产品经受环境温度迅速变化的能力。温度冲击试验是用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性,是装备设计定型的鉴定试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验,在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验。可以说冷热冲击试验箱在验证和提高装备的环境适应性方面应用的频度仅次于振动与高低温试验。
温度冲击试验参考标准:
GB/T 2423.22; IEC 60068-2-13;IEC 60068-2-14; EIA-364-32; MIL-STD-202;GJB 150.5等。
温度冲击试验的目的:
1、工程研制阶段可用于发现产品的设计和工艺缺陷;
2、产品定型或设计鉴定和批产阶段验收决策提供依据;
3、作为环境应力筛选应用时,目的是剔除产品的早期故障。
温度冲击试验应用领域:
道路交通类:道路车辆电子电气设备、轨道交通机车车辆设备与装置、汽车零部件等
计算机类:电脑、显示屏、主机、电脑元器件、设备等精密仪器等
电子通信类:手机、射频器、电子通信元器件等,PCB、PCBA。
电器类:家电、灯具、变电器等各类家电电器设备、仪器仪表、器械;
其他:包装箱、运输设备等。
设备型号:CJ602S3 Ⅰ
试验温度范围:-75℃~200℃
高温设定范围:+60℃~+200℃
低温设定范围:0℃~-75℃
温变速率:≤5Min
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