采用PlasmaMS 300进行分析时样品注意事项:
很多样品的初始状态并不适合直接上机测试,例如:
固体样品 浑浊样品(Heterogeneous)
待测元素含量过高 (**SMAMS 300的动态线性范围大约是 100ppm)
高基体 (我们建议**SMAMS 300上机样品TDS <0.2%w/v,TDS为总固态可溶物含量
Total Dissolved Solids)
由于以上原因,我们需要先将样品转换成液体形态。一般来说,HNO3是比较理想的选择, 但有时候由于样品基体的原因,无法使用HNO3---例如**样品和钢铁样品等。如果可以 使用HNO3,2% HNO3是比较适合**SMAMS 300分析上机的。因为的HNO3加入一般不会增加 多原子干扰,同时,高纯度HNO3比较容易买到。
其他类型的酸试剂都会带来额外的干扰。例如:添加HCl来溶解样品,会产生ClO & ArCl, 因此会干扰V & As的测定。磷酸和硫酸的添加会干扰Ti & Zn的测定。
我们建议 **SMAMS 300 的样品溶解并稀释到以下范围:
< 0.2% w/v TDS(Total Dissolved Solids)
PlasmaMS 300 的ICP部分
由于ICP是一个开放式的等离子体系统,始终处于电离与平衡的过程之中,因此ICP并不 能够承受大量液体样品的引入,因此采用雾化器,雾室这样的进样系统。 通过蠕动泵使样品不断到达雾化器,雾化器把液体样品喷射成颗粒细微的气溶胶,雾室去 除大颗粒的气溶胶,保证颗粒较小的气溶胶引入ICP中。伴随着在炬管中心管中的温度逐 渐升高,样品发生了一系列物理变化,终形成离子。 由于样品气溶胶始终被气体所推动,因此整个样品离解过程是非常迅速的。而在雾化器中 形成的气溶胶绝大多数都被形成废液后排除,真正到达ICP的样品其实非常有限。 ICP中的离子:气态元素原子失去电子形成的物理性离子,与溶液中的离子完全不同 之所以采用ICP源是因为只有足够高的温度才能提供能量实现样品中的化合物离解和气化 以及电离。
等离子体具有很高的温度(8000-10000K),在这个温度下大多数元素从原子变为带电离 子,以离子形态进入一级真空系统。
氩气等离子体具有一个典型特点:即使样品中有许多元素,在通过等离子体时,绝大多数 元素都会形成单电荷正离子。
ICP-MS的前处理方法包括:
1、稀释和溶解:适合直接溶解的液体或固体样品
2、普通酸溶消溶:可以溶解于无机酸获**酸的固体样品,部分金属和非金属固体样品
3、微波消解:难溶的土壤、合金、矿石等样品
4、密闭闷罐消解:密闭环境,高压消解,普通酸溶无法完全消解样品可以尝试该方法
5、熔融:采用熔剂高温状态下熔融,一般地质矿样使用该方法居多
6、基体分离:色谱、离心、电热蒸发等
PlasmMS等离子体的形成可以用弗林明左手定则(Fleming’s Rule)来解释,该定律解释了电流、RF频率、与能量之间的关系。
辅助气沿着感应线圈的轴向通过石英炬管。RF发生器给水冷式感应线圈供能,在炬焰内 部产生射频磁场(radio-frequency magnetic field),该磁场并不直接偶联惰性气体,但通 过将特斯拉线圈的放电传给氩气,可以形成一些Ar+。这些起始离子可以将RF磁场与氩气 偶联,更多的Ar+不断产生,因而可以在矩管内维持稳定的等离子体。
等离子体刚形成时,并没有通雾化气,此时等离子体是螺旋管形状(toroidal)的,随着雾化 气流速的增加,样品气流会穿通等离子体的通道(central channel),样品在中心通道 处被电离。
氩气等离子体由自由Ar+离子和电子组成,由RF射频振荡供能,振荡频率是27Mhz。相比 离子而言,电子的移动性较高,会跟随RF线圈的方向而移动。因此,在等离子体内部出 现了电荷分离,因此某种程度上来说等离子体可以像二极管(diode)那样,一小部分的RF 会发生反射回流(rectified)。产生的实际效果就是等离子体相对大地(earth)而言,会带些 许正电(或者负电),因此离子会产生额外的加应。另外一个效应就是,在截取锥与采 样锥之间的低压区间,会产生小小的电晕放电(corona discharge)现象,而该区域会发生 一些重新结合的反应(re-combination reactions)。利用RF发生器内部的虚拟接地,可以有 效减少等离子体的RF反射、接口处放电、以及导致的重新结合等。
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