肇庆表面微观形貌报价 优质服务

X射线分析.
x射线是--种波长很短的电磁波，这是1912年由劳埃M.vonLaue指导下的的衍射实验所证实的。x射线衍射是利用X射线在晶体中的衍射现象来分析材料的晶体结构、晶格参数、晶体缺陷(位错等)、不同结构相的含量及内应力的方法。这种方法是建立在- -定 晶体结构模型基础上的间接方法，即根据与晶体样品产生衍射后的X射线信号的特征去分析计算出样品的晶体结构与晶格参数，并且可以达到很高的精度。然而由于它不是显微镜那样可以直接观察，因此也无法把形貌观察与晶体结构分析微观同位地结合起来。由于x射线聚焦的困难,所能分析样品的小区域(光班)在毫米数量级，因此对微米及纳米级的微观区域进行单独选择性分析也是无能为力的。

扫描隧道显微镜(STM)是-种新型的表而测试分析仪器。与SEM、TEM相比，STM具有结构简单、分辨本领高等特点,可在真空大气或液体环境下以及在实空间内进行原位动态观察样品表面的原子组态，并可直接甲于观察样品表而发生的物理或化学反应的动态过程及反应中原子的迁移过程等。5.4 射电子显微镜(TEM)

原子力显微技术(AFM)
原子力显微镜(lAtomic force microscopy)的主要特征是不要求电导的表而，因为它测量的是扫描探针和它的样品表而间的相互作用力，包括静电的、范德华的、摩擦的、表面张力的(毛细的)和磁力的，因此它克服了STM方法的不足并成为它的互补。由于仪器可以调节到所测量对象特定力有敏感作用的，故其可测量样品范围扩展到**、无机、生物材料及技术样品。不同于STM，从AFM探针所获得是每一一个 表面点力的图。这力的图可解释为表而结构的反映，是磁的、静电的诸种力的几何拓朴图。AFM测定样品表面形貌的模式有三种:接触式、非接触式和轻敲式(tapping mode)。

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深圳市启威测标准技术服务有限公司（简称“启威测”或“QWC”）成立于2016年，位于光明新区，专注于移动产品及电子产品研发阶段可靠性检测、验证及失效分析服务。 启威测根据CNAS国家认可实验室要求建设，配合高科技电子产品设计、验证、生产过程中的检测需求组建科技实验室，并严格按照ISO/IEC17025的规定进行实验室质量体系建设与业务管理，保证检测结果的科学性、公正性和准确性，为客户提供优质、可靠、高效、满意的服务。 实验室业务涵盖环境可靠性检测和分析检测，环境可靠性实验室能开展的项目有气候环境实验、机械环境实验、光照模拟、腐蚀实验等项目。分析实验室可对电子器件、电路板、电子材料及电子产品进行可靠性分析、失效分析等检测服务。 环境可靠性检测中心 气候环境：高/低温存储、温湿度循环、冷热冲击、快速温变、低气压试验、步入式温湿度循环测试(Walk-in)； 机械环境：振动测试、机械冲击、跌落测试、高速摄影、工业包装跌落/振动测试； 光照模拟： UV紫外线老化、太阳光谱模拟测试(氙弧灯)、太阳辐射； 腐蚀实验：中性盐雾（NSS）、醋酸盐雾（ASS）、铜加速醋酸盐雾（CASS）、交变盐雾（NSS+湿热）、霉菌试验、混合气体腐蚀测试； 加速应力：温度+湿度+振动三综合实验、HAST高加速老化测试、MTBF; 理化性能及分析检测中心 材料热分析：差示扫描量热法（DSC）、热重分析（TGA）、动态热机械分析（DMA）、热机械分析（TMA）； 成分分析：红外光谱（FTIR）、SEM/EDS、气相色谱-质谱联用（GC-MS）、Py GC-MS、（AES）、（TOF-SIMS) ; 失效分析：金相切片、扫描电镜和能谱分析（SEM&EDS）、声学扫描分析（C-SAM）、 X射线透射（X-ray）、 X射线荧光光谱分析（XRF）、X射线光电子能谱分析（XPS）、X射线衍射仪（XRD）； 检测领域