广州电子元件失效分析

优尔鸿信检测实验室配有场**扫描电镜、钨丝灯扫描电镜、FIB聚焦离子束、工业CT、超声波C-SAM等电子元件及半导体检测设备，可针对电子元件，半导体部件进行质量检测和失效分析服务。在PCB（Printed Circuit Board，印制电路板）的制造与应用中，分层（Delamination）是一个常见的问题。分层指的是多层PCB内部不同材料之间的粘合界面出现分离的现象。这通常发生在层压过程中或是在PCB使用过程中由于热应力、机械应力、湿气等因素导致。分层不仅会影响PCB的电气性能，还可能导致整个电子设备的功能失效。PCB分层的原因材料不匹配：PCB由多层材料组成，包括基材、铜箔、预浸料（Prepreg）等。如果这些材料之间的热膨胀系数（CTE）不匹配，在温度变化时会产生不同的膨胀或收缩，从而导致内应力积累，终引起分层。制造缺陷：生产过程中可能出现气泡、空洞、未完全固化的树脂等缺陷，这些缺陷会成为分层的起点。环境因素：高温、高湿环境会加速材料的降解和老化，降低界面的粘接力，增加分层的风险。如，PCB在SMT回流焊接过程中，如果吸潮严重，会在高温下产生蒸汽压力，导致分层。机械应力：外加的机械应力，如弯曲、冲击等，也会导致PCB内部产生裂纹，进而引发分层。PCB分层检测PCB分层时间测试是保证电子产品质量和可靠性的重要手段之一。通过科学合理地选择测试方法，准确分析测试结果，可以有效预防和减少PCB分层现象的发生，为电子产品提供较加稳定可靠的性能**。FIB（Focused Ion Beam，聚焦离子束）技术在微电子领域中有着广泛的应用，尤其是在PCB板的检测与失效分析方面。FIB设备能够实现纳米级别的加工与成像，为研究者提供了强大的工具来探索材料的微观结构和性能。FIB的基本原理FIB技术利用高能离子束对样品表面进行轰击，通过控制离子束的能量和流强可以实现材料的去除（刻蚀）、沉积、改性和成像等操作。通常使用的离子是离子（Ga+），因为离子源具有较高的亮度和较长的工作寿命。FIB系统通常配备有SEM（扫描电子显微镜），可以在同一台设备上同时实现离子束加工和电子束成像，提供高度的空间定位能力。FIB的主要功能成像：FIB可以像电子束一样在样品表面进行逐行扫描，通过收集二次电子或二次离子信号，生成高分辨率的表面形貌图像。与SEM相比，FIB成像具有的深度穿透能力和较高的衬度，特别适合多晶材料的晶粒取向和晶界分布分析材料分析：FIB可以与EDX（能量色散X射线光谱）、EBSD（电子背散射衍射）等分析手段结合，对材料的化学成分和晶体结构进行详细分析。电路修复与修改：在半导体工业中，FIB常用于对芯片内部的电路进行微调或修复，例如切断或连接特定的导线。断面制备：FIB可以地切割出样品的横截面，以便观察内部结构，这对于PCB板的失效分析尤为重要。失效分析：当PCB板出现故障时，可以通过FIB技术地切除故障区域，然后使用SEM或其他分析技术对故障部位进行详细的微观结构分析，以确定失效的原因。比如，检查是否存在焊接不良、材料缺陷、腐蚀等问题。FIB作为一种高精度的加工和分析工具，在PCB板的检测和失效分析中发挥着的作用。随着技术的不断进步，FIB的应用范围还将进一步扩大，为电子制造业带来更多的可能性。BGA是一种高密度表面装配封装技术，在封装底部，引脚都成球状并排列成一个类似于格子的图案，由此命名为BGA,目前主板控制芯片组多采用此类封装技术. 采用BGA技术封装的内存，可以使内存在体积不变的情况下，内存容量提高两到三倍。 尽管BGA器件的性能和组装常规元器件，但BGA封装技术的发展仍受限于BGA焊点的质量和可靠性。BGA焊点检测常用方法:红墨水染色试验:红墨水试验适用于验证印刷电路板上BGA及IC的焊接情况,可以得到BGA焊点内部裂纹分布及裂纹开裂界面的重要信息。切片分析:切片技术主要是一种用于检查电子组件、电路板或机构件内部状况、焊接状况的分析手段。通常采用研磨的方法，使内部结构或缺陷暴露出来。 X-Ray+CT断层扫描 :非破坏性测试，可用于检测BGA焊接焊点开裂、气泡、桥接、少件、空焊等异常C-SAM超声波扫描是一种非破坏性检测技术，主要利用声学扫描原理来检测样品内部的结构和缺陷。扫描声学显微镜，是一种超声波显微镜，用于观察和分析材料内部的微观结构。C-SAM的工作原理是，通过**超声波传递到样品内部，当声波遇到与周围材质不同的物质时，会发生反射、散射、吸收、阻挡等现象。返回的声波（回声）被接收并处理，用于生成内部结构的图像。C-SAM超声波检测利用超声波在介质中的传播特性，通过检测反射波来识别多层PCB中的焊接质量及通过孔焊接情况。常用于多层PCB板的检测，能够发现焊点内部的空洞、裂纹等缺陷。C-SAM利用超声波在材料内部的反射特性，实现对PCB内部结构的非接触、非破坏性检测。在检测过程中，PCB板*拆解，即可全面扫描其内部情况，避免了因检测而损坏产品的风险，确保了产品的完整性和可重复检测性。C-SAM技术具有高的空间分辨率，通常能够达到微米甚至亚微米级别。能够清晰地显示PCB内部的微小结构和缺陷，如分层、裂纹、空洞等。C-SAM还支持多层扫描功能，能够聚焦到PCB内部的特定层次，实现对不同深度的结构进行逐一分析。C-SAM超声波检测用途：1. 缺陷检测分层检测：C-SAM能够检测PCB内部的分层现象，这是PCB生产中常见的质量问题。通过超声波在材料界面处的反射和透射差异，C-SAM可以清晰地显示分层的位置和范围；同样利用超声波的反射特性，C-SAM能够识别PCB中的微小裂纹和空洞。可以在生产早期发现并解决这些问题。2. 多层结构分析多层PCB检测：在多层PCB中，层间互连的可靠性至关重要。C-SAM可以检测层间互连的完整性和质量，如过孔、盲孔和埋孔等，确保它们没有断裂、错位或接触不良等问题。3. 失效分析失效原因分析：当PCB在使用过程中出现故障时，C-SAM可以用于失效原因分析。通过检测失效部位的微观结构和缺陷情况，可以找出导致故障的根本原因，为后续的改进和修复提供依据。C-SAM技术不仅局限于PCB质量检测，还广泛应用于半导体、汽车电子、等多个领域。在半导体制造中，C-SAM能够检测晶圆分层、锡球裂纹等缺陷；在汽车电子领域，则能确保ECU等关键部件的可靠性和稳定性。优尔鸿信检测以客户为中心，为客户提供全面的PCB板检测服务。实力：隶属于世界**企业；正规：于2003年获得CNAS初次认可，2018年获得CMA资质；精益求精：验室采用全进口设备，确保数据准确性；快速：3工作日完成报告，打破业内规则；经验丰富：长期从事电子产品及零部件检测服务。PCB板表面绝缘阻抗测试是一种用于评估PCB板表面绝缘性能的检测方法。在PCB的制造和组装过程中，由于绝缘层的质量对于防止电气故障具有至关重要的作用，因此它被广泛应用于电子制造、通信和电源电子设备等多个领域。

优尔鸿信检测技术（深圳）有限公司旗下的成都检测中心（华南检测中心成都分支）成立于1996年，配合高科技电子产品设计、验证、生产过程的检测需求组建科技实验室，创始团队汇集科技精英、凭借雄厚的技术背景和开拓创新精神，在一张白纸上点石成金。华南检测中心迄今发展成目**大功能22个专业的实验室，主要检测设备4300余台（套），拥有1500人的管理、技术人员团队，打造了一个提供快速、精密、准确检测能力、服务网络遍及全国的大型旗舰实验室。于2003年**中国国家合格评定**（CNAS）的初次认可，检测能力获得苹果、戴尔、惠普等**客户的认可，实现［一份报告、**通行］。 检测业务主要分为：尺寸量测与3D工程、仪器校准、材料分析（金属、塑料）、有害物质检测、电子零组件失效分析、物流包装测试、可靠性分析（气候、机械）、仿真分析、热传测试、声学测试、食材检测（微生物、理化检测）、儿童玩具测试、汽车材料及零部件检测、产品认证等。