自贡汽车电子元件检测

优尔鸿信检测SMT实验室，多年从事电子元器件检测服务，实验室配备有多种型号的C-SAM、X-RAY、工业CT等无损检测设备，可提供PCB到PCBA各个环节的检测服务。
PCB分层是指PCB内部各层之间，如铜箔与介质层之间，原本通过粘结剂牢固粘结在一起的部分，在受到外力、温度变化或化学腐蚀等因素的影响下，发生分离的现象。分层会导致电路板的机械强度下降，信号传输受阻，甚至导致电路板失效。
影响PCB分层时间的因素
材料选择：PCB的基材（如环氧树脂）的种类、分子量、交联度等都会影响其层间结合强度，从而影响分层时间。高分子材料的热稳定性、化学稳定性以及机械性能都会对此产生影响。
制造工艺：PCB的制造工艺，如压合温度、压力、时间等，都会直接影响层间结合强度。制造工艺不当可能导致层间结合不良，缩短分层时间。
环境因素：温度、湿度等环境因素也会对PCB的分层时间产生影响。高温、高湿环境可能加速PCB的老化过程，导致层间结合力下降，缩短分层时间。
设计因素：PCB的设计布局、线条宽度、间距等也会影响分层时间。例如，线条间距过小可能导致电磁干扰，增加分层的风险。
PCB分层时间测试方法
热应力测试(TMA法)：通过施加一定的热应力，观察PCB板在不同温度下的分层情况，并记录分层时间。参照标准IPC-TM-650 2.4.24.1。
机械应力测试：对PCB板施加一定的机械应力，如弯曲、扭曲等，观察其分层情况。这种方法可以评估PCB在机械应力作用下的层间结合强度。
环境模拟测试：将PCB置于高温、高湿等恶劣环境中，观察其分层情况。这种方法可以模拟PCB在恶劣环境下的工作状态，评估其环境适应性。

C-SAM超声波扫描是一种非破坏性检测技术，主要利用声学扫描原理来检测样品内部的结构和缺陷。扫描声学显微镜，是一种超声波显微镜，用于观察和分析材料内部的微观结构。
C-SAM的工作原理是，通过**超声波传递到样品内部，当声波遇到与周围材质不同的物质时，会发生反射、散射、吸收、阻挡等现象。返回的声波（回声）被接收并处理，用于生成内部结构的图像。
C-SAM超声波检测利用超声波在介质中的传播特性，通过检测反射波来识别多层PCB中的焊接质量及通过孔焊接情况。常用于多层PCB板的检测，能够发现焊点内部的空洞、裂纹等缺陷。
C-SAM利用超声波在材料内部的反射特性，实现对PCB内部结构的非接触、非破坏性检测。在检测过程中，PCB板*拆解，即可全面扫描其内部情况，避免了因检测而损坏产品的风险，确保了产品的完整性和可重复检测性。
C-SAM技术具有高的空间分辨率，通常能够达到微米甚至亚微米级别。能够清晰地显示PCB内部的微小结构和缺陷，如分层、裂纹、空洞等。C-SAM还支持多层扫描功能，能够聚焦到PCB内部的特定层次，实现对不同深度的结构进行逐一分析。
C-SAM超声波检测用途：
1. 缺陷检测
分层检测：C-SAM能够检测PCB内部的分层现象，这是PCB生产中常见的质量问题。通过超声波在材料界面处的反射和透射差异，C-SAM可以清晰地显示分层的位置和范围；
同样利用超声波的反射特性，C-SAM能够识别PCB中的微小裂纹和空洞。可以在生产早期发现并解决这些问题。
2. 多层结构分析
多层PCB检测：在多层PCB中，层间互连的可靠性至关重要。C-SAM可以检测层间互连的完整性和质量，如过孔、盲孔和埋孔等，确保它们没有断裂、错位或接触不良等问题。
3. 失效分析
失效原因分析：当PCB在使用过程中出现故障时，C-SAM可以用于失效原因分析。通过检测失效部位的微观结构和缺陷情况，可以找出导致故障的根本原因，为后续的改进和修复提供依据。
C-SAM技术不仅局限于PCB质量检测，还广泛应用于半导体、汽车电子、等多个领域。在半导体制造中，C-SAM能够检测晶圆分层、锡球裂纹等缺陷；在汽车电子领域，则能确保ECU等关键部件的可靠性和稳定性。

场**扫描电镜利用场**电子产生高能量的电子束，当电子束与样品相互作用时，会产生二次电子、背散射电子等信号。二次电子主要来自样品表面浅层，对样品表面形貌敏感，可用于观察样品的表面细节；背散射电子则与样品原子序数有关，通过分析背散射电子的信号可以了解样品表面不同区域的成分差异。
场**扫描电镜性能特点
高分辨率：可达到纳米甚至亚纳米级的分辨率，能够清晰地观察到样品表面的微观结构和细节。
高放大倍数：放大倍数通常在 10-100 万倍之间连续可调，可根据需要选择合适的放大倍数观察样品。
良好的景深：可以获得具有立体感的样品表面图像，对于观察粗糙或不规则的样品表面有利。
多功能性：除了观察形貌外，还可配备能谱仪、电子背散射衍射仪等附件，进行元素分析、晶体结构分析等。
低电压成像能力：在低加速电压下也能获得量的图像，可用于观察对电子束敏感的样品。
场**电镜应用领域
材料科学领域
材料微观结构研究：分析金属、陶瓷、高分子等材料的晶粒尺寸、形状、分布及晶界特征等，如研究纳米金属材料的晶粒大小和生长形态，帮助优化材料的制备工艺，提高材料性能。
材料表面形貌观察：观察材料在制备、加工或使用过程中的表面形貌变化，如金属材料的磨损表面、腐蚀表面，了解材料的损伤机制，为材料的防护和使用寿命预测提供依据。
复合材料界面分析：观察复合材料中不同相之间的界面结合情况，如碳纤维增强树脂基复合材料中碳纤维与树脂的界面结合状态，为提高复合材料的性能提供指导。
半导体行业
半导体器件制造与检测：在半导体芯片制造过程中，用于观察光刻图案的精度、刻蚀效果、薄膜的均匀性等，如检测芯片表面的光刻线条是否清晰、有无缺陷，及时发现制造过程中的问题，提高芯片的良品率。
半导体材料研究：分析半导体材料的晶体结构、缺陷分布、杂质沉淀等，如研究硅材料中的位错、杂质团簇等缺陷对半导体性能的影响，为半导体材料的研发和质量控制提供重要信息。
地质与矿物学领域
矿物形貌与结构分析：观察矿物的晶体形态、解理、断口等特征，如石英、长石等常见矿物的晶体形貌，为矿物的鉴定和分类提供依据。
岩石微观结构研究：分析岩石的孔隙结构、矿物颗粒的排列方式、胶结物的形态等，了解岩石的物理性质和力学性能，为石油勘探、地质工程等提供基础数据。
纳米科技领域
纳米材料制备与表征：用于观察纳米材料的尺寸、形状、分散性等，如碳纳米管的管径、长度、管壁结构，以及纳米颗粒的粒径分布和团聚状态等，指导纳米材料的合成和制备工艺优化。
纳米器件研究：观察纳米器件的结构和性能，如纳米传感器、纳米电子器件等的微观结构和界面特性，为纳米器件的设计和性能改进提供依据。
注意事项

IMC定义
IMC是指金属与金属、金属与类金属之间在紧密接触的界面间，通过原子迁移互动的行为，组成一层类似合金的化合物，这种化合物可以写出分子式。在焊接领域，IMC特指铜锡、金锡、镍锡及银锡等金属组合之间形成的共化物。当焊锡与被焊底金属（如铜、镍、金、银等）在高温中接触时，锡原子和被焊金属原子会相互结合、渗入、迁移及扩散，冷却固化后在两者之间形成一层薄薄的共化物，即IMC层。
焊接的重要性：
1.构成一种电子产品，绝不可能与焊锡作业无关；
2.焊锡作业的良莠可能成为产品度的关键 ；
3.焊锡作业同时也是影响制造成本高低的因素之一。
焊接的作用： 
1.起一个连接和导通的作用； 
2.起一个固定的作用。 
焊接的关键： 
在一个足够热量的条件下形成金属化合物(IMC)。
IMC的影响：
IMC本身具有不良的脆性，会损害焊点的机械强度及寿命，尤其对抗劳强度危害很大。适量的IMC是焊点强度的保证，但过厚或过薄的IMC都会降低焊点的可靠性。IMC层过厚会导致焊点脆化、易断裂；而过薄则可能无法形成有效的连接。
IMC的测量
1）IMC样品制作（切片法）
2）化学腐蚀处理 
3）金相观察 
4）扫描电镜SEM&EDS分析
优尔鸿信检测
以客户为中心，为客户提供全面的PCB板检测服务。
实力：隶属于世界**企业；
正规：于2003年获得CNAS初次认可，2018年获得CMA资质；
精益求精：验室采用全进口设备，确保数据准确性；
快速：3工作日完成报告，打破业内规则；
经验丰富：长期从事电子产品及零部件检测服务。
PCB板表面绝缘阻抗测试是一种用于评估PCB板表面绝缘性能的检测方法。在PCB的制造和组装过程中，由于绝缘层的质量对于防止电气故障具有至关重要的作用，因此它被广泛应用于电子制造、通信和电源电子设备等多个领域。

优尔鸿信检测技术（深圳）有限公司旗下的成都检测中心（华南检测中心成都分支）成立于1996年，配合高科技电子产品设计、验证、生产过程的检测需求组建科技实验室，创始团队汇集科技精英、凭借雄厚的技术背景和开拓创新精神，在一张白纸上点石成金。华南检测中心迄今发展成目**大功能22个专业的实验室，主要检测设备4300余台（套），拥有1500人的管理、技术人员团队，打造了一个提供快速、精密、准确检测能力、服务网络遍及全国的大型旗舰实验室。于2003年**中国国家合格评定**（CNAS）的初次认可，检测能力获得苹果、戴尔、惠普等**客户的认可，实现［一份报告、**通行］。 检测业务主要分为：尺寸量测与3D工程、仪器校准、材料分析（金属、塑料）、有害物质检测、电子零组件失效分析、物流包装测试、可靠性分析（气候、机械）、仿真分析、热传测试、声学测试、食材检测（微生物、理化检测）、儿童玩具测试、汽车材料及零部件检测、产品认证等。