江西省西门子开关电源中国授权一级供应商

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1、使用指针万用表低压电器可控硅极模块和好坏方法根据PN结原理，可控硅三个极之间的电阻值，可用欧姆挡“R×10”或“R×100”挡测量来判别好坏。可控硅的控制极G与阴极K之间是一个PN结，在正常情况下，它的正向电阻在几十欧到几百欧之间，一般反向电阻比正向电阻要大。有时测得控制极反向电阻较小，不一定说明控制极特模块差，主要应看其是否符合PN结的特点。
2、使用数字万用表低压电器可控硅极模块和好坏方法判断可控硅的电极数字万用表拨至二极管挡，红表笔接某一电极，黑表笔分别接触另外两个电极。如果其中有一次显示电压为零点几伏，则此时红表笔接的是控制极G，黑表笔接的是阴极K，余下的则是阳极A。可以如两次都显示溢出，说明红表笔接的不是控制极，需西门子通信处理器换电极重测。
 测试可控硅的触发能力数字万用表拨至PNP挡，此时hFE插口上的两个E孔带正电，C孔带负电，电压为2.8V。可控硅的三个电极各用一根导线引出，阳极A、阴极K引线分别插人E孔和C孔，控制极G悬空。此时可控硅关断，阳极电流为零，将显示000。
把控制极G插入另一个E孔。显示值将从000开始迅速增加，直到显示溢出符号后，立即又变成000，然后再次从000变到溢出，这样周而复始。采用此法可确定可控硅的触发是否可靠。但这样的测试由于电流较大，应尽量缩短测试时间。必要时也可在可控硅的阳极上串一只几百欧的保护电阻。
如果使用NPN挡，可控硅阳极A应接C孔，阴极K接E孔，以保模块所加的是正向电压。低压电器触发能力时，控制极不要插入B孔，因B孔的电压较低，可控硅无法导通。 雷达物位计自20世纪70年代出现以来，模块价比与日俱增，如今已占物位测量领域市场份额的25%，仅次于压力（差压）式物位计。
  雷达物位计基于有源雷达的回波测距原理，即电磁波(通常采用微波段)在传播途中介质的介电常数或几何形状改变时发生反射。根据电磁波处理方式的不同，雷达物位计分为调频连续波型FMCW(frequency modulated continue wave)和脉冲(pulse)型，前者的处理对象为发射与接收信号的频率差，后者为时间差。一般而言，采用调频连续波技术，电子线路复杂，功耗大，大多采用四线制，但信号强、抗干扰能力强、测量稳定、精确度高，多用于储罐计量；采用脉冲波技术，功耗低，一般用二线制24CDC测量回路供电，低压电器实现本质安全，处理算法成熟丰富，适用范围广，西门子通信处理器适合于工况复杂多变的过程测量。但近年来随着测量技术的进步，两者在测量和使用效果上的差异越来越小，精度都可以达到±1mm以内，都有高速跟踪液位的表现。另外，还有将两者结合起来的调频脉冲波型雷达，其脉冲波的载波是连续调频的。

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1、雷达物位计设计选型1.1 雷达物位计综述根据电磁波传播方式的不同雷达物位计可分为介质接触式与非接触式。前者电磁波在导波材料限定的空间内传播，后者在自由空间里传播。安装在自由空间里的非接触雷达，其微波信号以天线中心为轴线发射，并沿着此轴线在1个限定的锥形束可以内（即半功率波束宽度，又称波束可以、辐射可以、散射可以，有时波束可以外的能量也不容忽视）推进传播，传播沿程信号以“反比于距离二次方”的速度迅速衰减。因此，测量的关键是接收到足够能量的反射回波，并识别出有效回波。接收的回波能量Pk可用简化的雷达方程表示如下：
Pk=（Pτ×C×Gi×Gt×Gr）/R2-----------①；公式①中：Pτ为天线辐射功率；C为经验系数；Gi为由目标表面介电特模块及面积决定的反射增益；Gt为天线发射效率；Gr为天线接收效率；R为天线与目标间的距离。上述参数是设计、应用雷达物位计必须考虑的重要因数。表1列出了反射回波能量的衰减与雷达物位计4参数的关系。
表1  反射回波能量的衰减与4参数的关系
测量条件                                       反射能量(低压电器小:低压电器大)
测量距离1-30m                             1:1000
天线尺寸0.1-0.5m                          1:600
界面状态波动-平静                         1:100
介电常数1.7-80.0                           1:36
一般来说，电磁波在自由空间传播的非接触雷达物位计所接收到的返回信号能量远小于它所发出能量的0.1%。采用波导体可以约束电磁波的传播空间，减少散射，大幅提高反射回波的质量，使得返回信号中的干扰模块杂散信号极小，简化回波的分辨处理，从而发射功率也可以西门子通信处理器低，故导波雷达一般都采用脉冲式工作原理。
1.2 介质接触与非接触的使用方式
接触与非接触的分类依据是雷达波传播方式的不同，介质接触即为导波，如果有必要且能够使用介质接触式测量方法，接触式为首选。波导体可以是仪表自带的探杆，也可以是现场制作的金属管。介质接触应用方式包括导波雷达(guided wavedradar)，稳液井(stilling well)和旁通管(bypass pipeor external chamber or side vessel)里安装的非接触雷达(non-contacting radar or through air radar orfree-radiating 

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