冲击试验主要用来确定电工电子元器件、设备及其他产品在使用和运输过程中承受非多次重复的机械冲击的能力,以评价其对冲击环境的适应性和结构完好性,其次是用于微电子器件内强度试验。冲击试验还可以作为产品满意设计和质量控制手段。
在环境试验中,振动、冲击和碰撞是有共通点的,这三种试验都可以作为对产品本身结构强度的一种有效检验手段,但是:振动试验讲究持续性、疲劳性。像产品在运输过程或者一些发动机上的元件在运行时,都是一个长期的过程。
冲击试验的方法有三种:一是规定冲击脉冲波形的方法;二是规定冲击机的方法;三是规定冲击响应谱的方法。通常方法一称为冲击试验,方法二称为强碰撞冲击试验,而碰撞试验属于规定冲击脉冲波形的方法。
现代电子技术发展越来越快,产品的生产和使用周期都越来越短,如何才能**产品在设计、生产制造和使用的过程中不出现问题,这是每个生产制造厂商都必需考虑的问题。可靠性试验(HALT/HASS)是非常有效率的发现产品存在缺陷的快速方法。一般可靠性试验分为温度类和机械类的,又或者两者的结合。
振动试验的目的是模拟一连串振动现象,测试产品在寿命周期中,是否能承受运输或使用过程的振动环境的考验,也能确定产品设计和功能的要求标准。振动试验的定义在于确认产品的可靠性及提前将不良品在出厂前筛检出来,并评估其不良品的失效分析使其成为高水平,高可靠性的产品。
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