手持式光谱仪产品详细资料介绍,手持式光谱分析仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供手持式光谱仪报价和操作说明。按照不同的行业和测试物质,可分为手持式合金分析仪XRF5000,手持式矿石分析仪XRF7000,XRF8000,手持式土壤重金属分析仪XRF9000,手持式ROHS有害元素分析仪XRF3000。利用新一代半导体检测器提高测试速度和分析精度,手持式光谱仪的应用已经越来越广泛。
手持式光谱仪在使用的时候,对于环境也是有一定的要求,不要在潮湿的环境下工作的,环境湿度0-95%之间为好,不能在太高温下操作工作,这样的理由是避免各类磁场的干扰,如此仪器分析的时候才能检测出更的精度。所以,大家在工作的时候要注意环境的适合度,很多时候仪器检测不标准跟环境还是有很大程度上的关系。
手持式光谱仪是一种基于XRF光谱分析技术的光谱分析仪器,当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子从而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的状态,当较外层的电子跃迁到空穴时,产生一次光电子,击出的光子可能再次被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子,发生俄歇效应,亦称次级光电效应或无效应。所逐出的次级光电子称为俄歇电子。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不被原子内吸收,而是以光子形式放出,便产生X 射线荧光,其能量等于两能级之间的能量差。因此,射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。由Moseley定律可知,只要测出荧光X射线的波长,可以知道元素的种类,这是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特息。
技术参数: 重量: 1.6kg 尺寸: 30cm(L) x 10cm(W) x 28cm(H) 激发源: X射线管,Ag靶,40kV 检测器: SI-PIN检测器 操作系统:HP掌上电脑:Windows 5.0 Bruker 软件 冷却系统:Peltier 半导体冷却系统 电源: 交、直流供电;充电锂电池 工作条件:温度:-20 ℃ ~ 55 ℃ 湿度:0~95%
手持式分析仪 探测器:13mm2 电致冷Si-PIN探测器 激发源:40KV/50uA-银端窗一体化微型X光管 检测时间:10-200秒(可手持式或座立式测试) 检测对象:固体、液体、粉末 检测范围:硫(S)到铀(U)之间所有元素 可同时分析元素:多至26个元素 元素检出限:0.001%~0.01% 校正方式: 银(Ag) 性:自带模式,非授权人员无法使用 Data使用性:可在PDA内进行编辑,可导入PC机进行 保存打印,配备海量存储卡 电 源: 两块锂电池满电可连续工作8小时
手持式光谱仪系统误差的来源有: (1)标样和试样中的含量和化学组成不完全相同时,可能引起基体线和分析线的强度改变,从而引入误差。 (2)标样和试样的物理性能不完全相同时,激发的特征谱线会有差别从而产生系统误差。 (3)浇注状态的钢样与经过退火、淬火、回火、热轧、锻压状态的钢样金属组织结构不相同时,测出的数据会有所差别。 (4)未知元素谱线的重叠干扰。如熔炼过程中加入脱氧剂、除硫磷剂时,混入未知合金元素而引入系统误差。 (5)要系统误差,必须严格按照标准样品制备规定要求。为了检查系统误差,需要采用化学分析方法分析多次校对结果。
江苏天瑞仪器股份有限公司生产和销售:手持式光谱仪,手持式合金分析仪,重金属检测仪,直读光谱仪,VOC检测仪,合金分析仪,元素分析仪,紫外光谱仪,重金属分析仪,VOC检测,贵金属检测,贵金属检测仪。公司从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。江苏天瑞仪器股份有限公司将以“分析行业者”的姿态,不断探究世界分析领域的前端。为客户提供更加的产品和更加满意的服务,同时为电子、电器、珠宝、玩具、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等众多行业提供更为完善的行业整体解决方案,从而推动化。