x射线荧光光谱仪产品详细资料介绍 ,XRF光谱分析仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光分析仪产品报价和资料。EDX8000H采用抽真空测试技术,能够很好的对轻元素进行分析和测试。 测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)。
X荧光光谱仪优点
a) 分析速度快。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,10~300秒就可以测完样品中的全部待测元素。
b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在**软X射线范围内,这种效应较为显著。波长变化用于化学位的测定 。
c) 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量,结果重现性好。
d) X射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。
e) 分析精密度高。目前含量测定已经达到ppm级别。
f) 制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
方法应用
①粉末压片法分析痕量元素
粉末压片法多用于分析痕量元素配合熔融法分析主量元素。
②粉末压片法分析主、次、痕量元素
粉末压片法也常用于地质、化探、冶金等样品的全分析。
③熔融后再粉碎压片
熔一块均匀、表面光滑的融片是一项技巧性很强的工作,有些样品不易脱模或容易碎裂,有的对Pt-Au坩埚有腐蚀作用,熔融后粉碎压片的方法(可用石墨坩埚代替Pt-Au坩埚)既可消除颗粒度效应的影响,又解决了不易成型的问题。熔融后再粉碎压片来测定地质试样中的全硫,这样可减小粉末样片保存过程中硫价态变化对分析准确度的影响。
一般来说,对于煤、水泥、岩石、土壤等样品的常规分析,用粉末压片法可达到分析精度和准确度为5%左右的要求。大多数痕量元素的检出限可达100μg/g左右,因X荧光光谱仪有较好的稳定性,还可通过延长计数时间使检出限进一步降低。用粉末压片法制样,结合自动进样装置和自动化分析仪,一次即可准确地分析20-30种元素,完全可以满足地质、矿产、商检等部门的分析需要。
如前所述,粉末压片是根据一定的分析对象进行试验,以选择制样条件,包括各种添加剂的使用、粉碎时间、压力、标样的选取等。这样造成的结果是,对一种分析对象提出的方法不能应用到其它试样中去。关键是尚未找到一种实用有效的粉碎技术,可将粉末试样碎至1-2μm,这种粉碎技术要简单易行,否则就失去了X荧光光谱仪分析快速方便的特点。
快,1秒钟出结果
1、采用行业的速探测器技术——(SDD)分辨率低至125eV
优势:探测面积大(面积达25m㎡)、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好
对贵金属的探测效率较高,探测信噪比较强,检出限较低
2、采用行业的数字多道技术
优势:有效提高输出效率,实现**高计数率,保证采集有效计数率**过600KCPS
3、采用大功率X光管及的准直滤光系统
优势:使贵金属的激发效率较高
4、光闸系统
优势:样品更换*关闭高压,提高测试效率与测试精度
x荧光光谱仪主要特点
1.检测对象:液体/固体/粉末-固体样品:点射配件-液体样品:样品池配件,适用于8mm瓶,NMR管和MP管
2.显微镜:可选显微镜配件
3.便携式:-重量轻-远程控制-蓝牙无线数据传输(或USB)-电池可持续运作5小时-数据库可无限扩充
4.**小的高性能光谱
5.120mW激发光源,功率可变
6.荧光成像可选
7.达到限衍射的成像和光谱
8.数据库可无限扩展
配置了真空测试系统,增加了元素测试范围,探测器配备SDD的测试系统,对于矿石间各元素进行检测,减少元素间干扰
整体结构化设计,仪器美观大方。
采用美国型的SDD硅飘移探测器,电致冷而非液氮制冷,体积小、数据分析准确且维护成本低。
采用*的SES信号处理系统(数字多道),有效提高峰背比,让测量较。
一键式自动测试,使用较简单,较方便,界面较人性化。
七种光路校正准直系统,根据不同样品自动切换。
多重防辐射泄露设计,辐射防护级别属于同类产品Highest。
优化一体化散热设计,使整机散热性能得到较大提高,确保X射线源的运行安全。
苏州实谱信息科技有限公司是一家以X荧光光谱仪为**,集多种检测仪器的研发、生产、销售于一体的科技企业。公司**产品X射线荧光光谱仪技术,达到国内水平。产品广泛应用于钢铁、有色、矿山、水泥、冶金、地质、贵金属饰、石油化工、食品、电子电器、五金塑胶、汽车工业等行业。 实谱公司拥有完善的销售和服务网络,在全国设立多个服务网点和营销代理,拥有强大的服务支撑体系。公司成立客户服务中心,提供免费服务热线。公司与国外多家建立合作关系,产品品种齐全,为各行业提供的分析检测解决方案和仪器设备。作为一家科技创新型企业,实谱科技拥有XRF行业的软件研发工程师和硬件研发工程师,平均从业经验十年以上。