高频信号发生器工厂闲置 金诚电子仪器

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问：什么是有载测试？
   答：故名思意 有载测试即在芯片测试中芯片的每个输出管脚都加有一定负载，使其并非工作在空载状态，更接近芯片在实际电路中的工作状态。有负载测试相对于空载测试的意义在于可以测试出驱动能力下降、功能正常但老化、弱击穿等软故障芯片。编程器普遍采用空载测试，集成电路测试仪一般采用有载测试，大型测试仪更是采用多负载可变阻抗测试精度更高。

ST-SP 2005
晶体管测试仪
产品特点
Ø测试范围广（类，27分类）
Ø升级扩展性强，通过选件可提高电压电流，和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A
Ø采用脉冲测试法，脉冲宽度为标规定的300us
Ø被测器件引腿接触自动判断功能，遇到器件接触不良时系统自动停止测试, 保证被测器件不受损坏
Ø真正的动态跨导测试。（主流的直流方法测动态跨导 ，其结果与器件实际值偏差很大）
Ø系统故障在线判断修复能力，便于应急处理排障
Ø二极管极性自动判别功能，无需人工操作
ØIV 曲线显示 / 局部放大
程序保护电流/电压,以防损坏
Ø品种繁多的曲线
Ø可编程的数据点对应
Ø 增加线性或对数
Ø可编程延迟时间可减少器件发热
Ø保存和重新导入程序
Ø保存和导入之前捕获图象
Ø曲线数据直接导入到 
Ø曲线程序和数据自动存入

晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础，以半导体器件为测量对象的电子仪器。用它可以测试晶体三极管（NPN型和PNP型）的共发射极、共基极电路的输入特性、输出特性；测试各种反向饱和电流和击穿电压，还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。

晶体管参数测试仪的使用注意事项
在测量出二极管的反向击穿bai电du压时，被测二极管实际上已经被击穿了，zhi但晶体管测试dao仪测量二极管的反向击穿电压或三极管的集电结反向击穿电压档内部串;连了阻值很大的限流电阻，使击穿后的反向电流很小，因此不会烧坏二极管。
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