为了实现外观缺陷自动检测,研究了基于机器视觉技术的外观缺陷检测系统。首先针对外观缺陷图像特点,全自动光学螺丝筛选机出售,分析了采用灰度阈值及单一颜色模型分割缺陷的局限性,提出基于混合颜色模型的缺陷图像分割方法,实现了外观缺陷快速、准确分割;然后通过分析外观缺陷特点,全自动光学螺丝筛选机制造,分别从形状、颜色和纹理共选取了12个类别差异明显的特征参数,提取了外观缺陷特征;后选择BP神经网络作为缺陷分类器,根据经验和实验确定了神经网络结构及参数,并分析了传统BP算法在外观缺陷分类应用中的不足,全自动光学螺丝筛选机销售,通过改变收敛标准、自适应调整步长和引入动量项以优化BP算法,改善了神经网络分类效果。
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半导体芯片广泛应用于各个领域、各类电子产品,已经成为经济发展、国家信息安全的命脉,深刻影响着现代人类的生活。在半导体芯片封装制造过程中,不可避免地在芯片表面产生各类缺陷,直接影响到芯片的运行效能及寿命。传统人工目视检测法已经难以适应半导体芯片封装制造的高速、高精度的检测需求。利用机器视觉技术对芯片表面缺陷进行检测,具有无接触无损伤、检测精度高、速度快、稳定性高等优点。尽管目前基于机器视觉的芯片缺陷检测技术在芯片打印字符、引脚外观尺寸位置等方面的研究已取得很好的进展,但对于芯片表面的外观缺陷检测与分类研究尚处于起步阶段。
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迈迅威视觉公司是一家生产销售光学影像检测设备的高科技企业,是国内早做光学检测设备的公司之一,总部位于上海市金山区。迈迅威视觉是光学影像检测技术解决方案提供商,专注于光学检测领域,坚持稳健经营、持续创新、开放合作,在汽配件、紧固件、磁材、电子件、印刷、精密五金、锂电等领域构筑了自己的**优势。 多年来,迈迅威视觉聚集图像处理软件、运动控制、机械设计等领域的精英人才,经过不断的努力奋斗,产品广泛应用于多个制造行业,遍布国内几多地区,在某些光学影像检测技术领域已**于西方国家,近年来公司产品陆续出口到日本、德国等传统技术强国以及东南亚地区。 迈迅威视觉重点研究的技术细分领域有:机器视觉和人工智能深度学习相结合、激光X光和接触式测量相结合,并**一系列成果,已经陆续应用到设备中了。