扫描电子显微镜(SEM)之样品处理的要求
1、形貌形态,须耐高真空。
例如有些含水量很大的细胞,在真空中很快被抽干水分,细胞的形态也发生了改变,无法对各类型细胞进行区分;
2、样品表面不能含有有机油脂类污染物。
油污在电子束作用下容易分解成碳氢化物,对真空环境造成很大污染。样品表面细节被碳氢化合物遮盖;碳氢化合物降低了成像信号产量;碳氢化合物吸附在电子束光路引起很大象散;碳氢化合物被吸附在探测器晶体表面,降低探测器效率。对低加速电压的电子束干扰严重。
扫描电子显微镜的优点:扫描电子显微镜是检测样品表面形貌的大型仪器。当具有一定能量的入射电子束轰击样品表面时,电子与元素核和外层电子发生一次或多次弹性和非弹性碰撞①放大倍数较高,20万~20万倍连续可调;②具有大景深、大视野、立体影像,可直接观察各种样品的凹凸不平表面,精细结构;③样品制备简单。目前的扫描电子显微镜配备了X射线能谱仪装置,既可以观察微观结构,又可以分析微观区域的成分。因此,它是当今非常有用的科研仪器。
扫描电子显微镜(SEM)之样品处理的要求
样品须为干燥。
水蒸气会加速电子阴极材料的挥发,从而大降低灯丝寿命;水蒸气会散射电子束,增加电子束能量分散,从而加大色差,降低分辨能力。
样品表面须导电。
在大多数情况下,初级电子束电荷数量都大于背散射电子和二次电子数量之和,因此多余的电子须导入地下,即样品表面电位须保持在0电位。如果样品表面不导电,或者样品接地线断裂,天津不导电样品电镜分析,那么样品表面静电荷存在,使得表面负电势不断增加,出现充电效应,使图像畸变,入射电子束减速,此时样品如同一个电子平面镜。
在某些情况下,样品制备变成重要的考虑因素
若要检测观察弱反差机理,就须消除强反差机理(例如,形貌反差),否则很难检测到弱的反差。当希望EBSD背散射电子衍射反差,I和II型磁反差或其他弱反差机理时,磁性材料的磁畴特性须消除样品的形貌。采用化学抛光,电解抛光等,产生一个几乎消除形貌的镜面。
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