揭阳第三方检测咨询冷热冲击测试怎么办理

冷热冲击试验和温湿度循环试验区别比较
冷热冲击试验和温度循环试验都是环境可靠性试验的一种，验证产品在温度变化中质量和稳定性情况。同样对于温度变化的测试，两者区别不同点又在哪里呢？温度冲击试验与温度循环试验的差异主要是应力负荷机理不同。冷热冲击试验主要考察由于蠕变及疲劳损伤引起的失效，而温度循环主要考察由于剪切疲劳引起的失效。
冷热冲击试验
升温/降温速率不低于30℃/分钟。温度变化范围很大，同时试验严酷度还随着温度变化率的增加而增加。
温度冲击试验容许二槽式试验装置，温度循环试验使用单槽式试验装置。在二槽式箱体内，温度变化率要大于50℃/分钟。
引起温度冲击的原因：回流焊、干燥、再加工、修理等制造、修理工艺中剧烈的温度变化。
加速应力试验：加速试验是使用比在实际环境中更短的时间，对试验样品进行的加速试验，以考察其失效机理。试验的加速就是采用加大应力的方法促使试验样品在短期内失效，但是必须避免其他应力引起的失效机理。
温度循环试验
温度循环就是将试验样品暴露于预设的高低温交替的试验环境中。为避免温度冲击的影响，试验时温度变化率必须小于20℃/分钟。同时，为达到蠕变及疲劳损伤的效果，推荐试验温度循环为25℃~100℃，或者也可根据产品的用途使用0℃~100℃的循环试验，曝露时间为各15分钟。
环境应力筛选试验
对产品施加环境应力促使早期失效产品存在的潜在缺陷尽快暴露而予以剔除。

冷热冲击试验箱适用于是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试设备，考核和确定电工、电子、汽车电器、材料等产品，在进行高低温试验的温度环境冲击变化后的参数及性能，使用的适应性，适用于学校、工厂、和研位等位。  
三箱式冷热冲击试验箱  冷热冲击试验箱适用于是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试设备，考核和确定电工、电子、汽车电器、材料等产品，在进行高低温试验的温度环境冲击变化后的参数及性能，使用的适应性，适用于学校、工厂、和研位等位。
冷热冲击试验箱特点 
1、具有USB功能，带RS232介面，曲线软体不需记录仪；
2、具有真空玻璃观察视窗，更有效的直接观察功能。
3、冷媒伺服阀流量演算控制.省电30%，有驻流时间休眠功能，节能50％以上;
4、控制器防电干扰获SGS咨询;具32数位以上软程匹配，具有第多次开发和软体升级功能，
5、通过ISO-9001的品质咨询（台湾大陆）
6、除霜周期(800个回圈除霜一次，每次除霜保证在2小时以内，整合试验达到25％的节能省电)

冷热冲击试验检测产品测试有什么标准
冷热冲击试验又名温度冲击试验或高低温冲击试验，是将试验样品交替暴露于低温和高温空气（或合适的惰性气体）中，使其经受温度变化的影响。用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性，是装备设计定型的试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验，在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验。
需要进行冷热冲击检测的产品：
电子通信类：手机、射频器、电子通信元器件等，PCB、PCBA；
电器类：家电、灯具、变电器等各类家电电器设备、仪器仪表、器械；
计算机类：电脑、显示屏、主机、电脑元器件、设备等精密仪器等；
道路交通类：道路车辆电子电气设备、轨道交通机车车辆设备与装置、汽车零部件等
其他：包装箱、运输设备等。
测试参考标准：
GB/T 2423.22；
IEC 60068-2-13；
IEC 60068-2-14；
EIA-364-32；
MIL-STD-202；
GJB 150.5等。

冷热冲击试验有哪些流程
冷热冲击试验
温度冲击试验就是为了验证产品在温度急剧变化的情况下不会对产品造成任何损坏，随着时代在不断的发展进步，不管是出口产品还是内销产品，都需要具备较高品质才能够被市场所接受。所以很多的产品是需要办理冷热冲击试验的，那么冷热冲击试验应该如何做呢。
冷热冲击试验办理流程：
1.咨询---申请人提品资料图片及描述给三方检测公司
2.报价---根据申请人提供的资料，作出评估，确定须测试的项目，并向申请方口头报价
3.申请方接受口头报价后填写测试申请表和测试样品一起提交到我司
4.收到到申请表和样品后向申请方发出书面报价，申请方根据书面报价安排付款。
5.样品测试——测试将依照所适用的标准进行
6.测试完成实验室出具相关冷热冲击试验报告
7.项目结束后会邮寄出报告-结案
冷热冲击测试的参考标准
1.IEC 60068-2-14环境试验 2部分：试验方法 试验N：温度变化,
2.GB/T 2423.22环境试验 2部分：试验方法 试验N：温度变化,
3.GJB 150.5装备实验室环境试验方法5部分：温度冲击试验,
4.JESD 22-A106B.01-2016温度冲击
温度冲击试验目的
温度冲击试验目的是考察被试样品在突然遭到温度剧烈变化时之抵抗能力及适应能力的 试验高低温冲击试验主要用于考察剪切和疲劳损伤引起的失效。特别在元器件存在虚弱部位 具有开路隐患时,或由于元器件材料和结构设计不当具有开裂隐患时,高低温冲击试验具有 较好的鉴别效果。该实验一般用温度冲击试验箱。

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