无源元器件:电容器、电感器、铁氧体磁珠、电阻器、变压器或晶体/陶瓷谐振器的阻抗测量。
半导体元器件:变容二极管的 C-V 特征分析。二极管、晶体管、放大器或 MEMS 的阻抗测量。
其他元器件:印刷电路板元器件的阻抗测量。
介电材料:塑料、陶瓷和印刷电路板的介电常数和损耗因数测试。
磁性材料:铁氧体、非晶体的导磁率和损耗因数测试。
AgilentE4991A E4991A射频阻抗/材料分析仪
主要特性与技术指标 基本精度
?基本精度 +/-0.8%
扫描参数
?频率:1 MHz 至 3 GHz
?振荡器电平:高达 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
?DC 偏置电平(选件 E4991A-001):+/- 40V 或 +/- 50 mA
更多特性
?Windows 风格的用户界面
?内置 VBA 编程功能
?通过 LAN 接口进行数据传输
多功能测量选件
?介电/磁性材料测量(选件 E4991A-002)
?可靠的晶圆测量(选件 E4991A-010)
?温度特性测量(选件 E4991A-007)
描述
E4991A射频阻抗/材料分析提供极限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。它将为元器件和电路设
的扫描范围和 1 mHz的分辨率。
材料评估
E4991A提供完整的介电/磁性材料测量解决方案,涵盖 1 MHz 至 1 GHz的宽频率范围。
晶圆测量
借助E4991A-010 探针台连接套件,您可轻松地地将 Agilent E4991A 连接到射频探头系统(由
在 - 55°C 至 + 150°C 广泛的温度范围内提供高精度的温度特性分析功能,以及强大的温度漂移补
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