采样锥和截取锥的区别

产品描述 所适用的ICP-MS型号部件编号
**大截取锥 NexION W1033995
**大截取锥的O形圈 NexION 09902123
**大截取锥的螺丝 NexION 09919737
采样锥和截取锥的O形圈

样品锥后是扩散区(expansion chamber)，气压降到300Pa；在穿越样品锥孔<1cm的距离内，等离子热能(5000-7500K)转化为动能(100-200K)，气体扩散速率(~2500m/s)**过声速。电子温度(electron temperature)基本不变(5000-7500K)，但电子密度(electron density)在<5um的距离内骤降，因此电子与离子重新结合是不可能的。
截取锥后是中间区(intermediate chamber)，气压降到10-3 Pa，沿截取锥内壁放射状分布负离子束，而轴向分布正离子束，正电荷在有限空间内彼此排斥，即空间电荷效应(space-charge effect)——它与基体抑制、轻质量元素低灵敏度 有关。
进样系统 标准大气压105 Pa—>样品锥后 300 Pa—>采样锥后10-3 Pa ，压强逐级降低。

ICP=MS
是20世纪80年代发展起来的无机元素和同位素分析测试技术，它以*特的接口技术将电感耦合等离子体的高温电离特性与质谱计的灵敏快速扫描的优点相结合而形成一种高灵敏度的分析技术。

所适用的ICP-MS型号 类型 数量 部件编号
ELAN 9000/6x00/DRC 采样锥 5 N8120511
ELAN 9000/6x00/DRC 截取锥 5 N8120512

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