回收网络分析仪:
回收:N5247A,N5245A,N5244A,N5242A,N5241A,N5249A
回收:N5227A,N5225A,N5224A,N5222A,N5221A,N5235A
回收:N5234A,N5232A,N5231A,N5239A,N5251A,N5264A
回收:E5080A,E5072A,E5071C,E5063A,E5062A,E5061B
回收:N9926A,N9927A,N9928A,M9375A,M9374A,M9373A
回收:M9372A,M9371A,M9370A,M9485A,E5070A,E5071A
回收:E5070B,E5071B,E5061A,8712ET,8712ES,8714ES
回收:8720D,8720C,8720ES,8720ET,8719C,8719D
回收:8719ES,8719ET,8722C,8722D,8722ES,8722ET
回收:8752C,8753C,8753D,8753E,8753ES,4395A
回收:4396B,N5230A,N5230C,N9923A,N9925A
回收EMI测试接收机
回收:ESW8,ESW26,ESW44,ESU8,ESU26,ESIB7
回收:ESU40,ESR3,ESR7,ESR26,ESCI3,ESCI7
回收:ESRP3,ESRP7,ESPI3,ESPI7,ESL3,ESL6
Agilent4287A射频测试仪
Agilent4287A射频测试仪LCR在1MHz~3GHz频率范围可以提供精确,可靠和快速测量,以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。与反向测量技术不同,采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行精确测量。
生产率高,质量可靠
4287A适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量非常快。此外,在小测试电流(100μA)优良的测试重复性还可以显着提高生产率,因为所需的取平均过程非常短。
系统组建简单
测试头电缆(1m或利用延伸电缆时为2m)很容易接到(元件固定装置的)被测件点测件接点附近,而不会使误差有任何增大。内置比较器功能,高速GPIB处理器接口可用来简化与元件固定装置和PC机的组合。增强的比较器功能可以使复杂的仓室适用于多频或阵列芯片测试。
便于使用
8.4英寸彩色显示器能清楚观察测量设置和结果。新研制的用户接口使操作过程更为方便且无差错。内置统计分析功能可以提供监视测试质量和效率的过程。可选用的LAN接口有助于统一进行生产监控。此外,若干APC-7 SMD测量夹具可以与4287所提供的夹具架和APC-3.5转APC-7适配器联用,从而无需制作专用夹具。
技术指标
(全面的技术指标参见数据资料表)
测量参数:|Z|,|Y|,θ-z(度/弧度)θ-y(度/弧度),G,B,Ls,Lp,Cs,Cp,Rs,Rp,Q,D(可同时显示4种测量参数)。
测试频率:1MHz~3GHz
频率分辨力:100KHz
测试信号:V:4.47mV~502mV(f≤1GHz); 4.47mV~447mv(f>1GHz)
I:0.0894mA~10mA(f≤1GHz);0.0894mA~8.94mA(f>1GHz)
电平监视功能:电压,电流
基本的Z精度:±1.0%
测量范围:200mΩ~3kΩ(1MHz下,精度≤10%)
测量时间:每点9ms(高速)
Rdc测量:可用于触点检查
校准:开路/短路/负载/低损耗电容量
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