台阶仪 NanoMap-PS是一款专门为nm级薄膜测量研发的*防震台即可测量的接触式台阶仪 AFM同款位移传感器,**** 压电陶瓷驱动扫描,**无内源振动 自集成主动反馈式防震系统 真正*额外辅助防震系统,实现高重复性纳米测量 纳米量级科学研究的*产品 NanoMap-PS 台阶仪可以应用在半导体,光伏/太阳能,光电子,化合物半导体,OLED,生物医药,PCB封装等领域的薄膜厚度,台阶高度,粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),划痕深度,磨损深度,薄膜应力(曲定量率半径法)等定量测量方面。其**,高重复性,自动探索样品表面,自动测量深受广大客户欢迎。 测量表面可以覆盖多种材料表面:金属材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等,对于植物表面,生物材料,聚合物表面,光刻胶等“柔软表面”也可测量无须担心划伤或破坏。设备传感器精度高,稳定性好。热噪声是同类产品较低的。垂直分辨率可达0.1nm 。 可测表面,包括透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料,金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿等; AEP的技术日新月异。 欲了解较新的产品性能参数,请与我们联系。 主要参数 : 垂直分辨率 0.1nm 垂直较大量程 1000um 探针接触力 0.03mg-100mg 平台范围 直径150毫米(可选200毫米或较大) 高清图像 4级放大,彩色CCD 成像光源 双**命强光LED 金刚石探针 0.5um 到 25um 可选
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