Wafera检查仪、半导体/led封装-晶圆外观检查仪-东虹鑫防静电设备

名称：Wafera检查仪、半导体/led封装-晶圆外观检查仪
 
编号：F-605
 
尺寸：400*400*10
 
功能介绍：ASM、KS、DISCO半导体/led封装 用于晶圆外观的检测（配合显微镜使用）
 
优点：可以360度旋转。操作方便，亮度可调节。定位方便，适用不同晶圆环（wafer）
 
使用案例：Wafera检查仪、半导体/led封装-晶圆外观检查仪
 













 
Wafera检查仪、半导体/led封装-晶圆外观检查仪
 

适用范围 : Wafera检查仪、半导体/led封装-晶圆外观检查仪 ;
产品名称 : Wafera检查仪、半导体/led封装-晶圆外观检查仪 ;
型号 : F-605 ;
** : 东虹鑫 ;
加工定制 : 否 ;

深圳市东虹鑫静电器材有限公司**研发制造半导体行业和

电子行业等行业使用的产品。如:五金不锈钢、碳钢、线、

管、板材,防静电器材等产品或

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优点:钢材骨架环保坚固、镀铬涂妆光洁亮丽、通透设计减

少尘埃、开放储物**时尚,具有灵活多变、款式新颖、自

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且可配置防静电工业轮子,具有防尘防电、*组装、承重

*、美观**、省力易推等特点;平板工作台、孔板工作

台、工作桌、文件柜、鞋柜、工具柜、及各种板材制作的产

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