闽台固纬Gwinstek GUT-6000B数字IC测试仪 Flash烧录器

GUT-6000B固纬数字IC测试仪/Flash烧录器产品特点循环测试
自动搜寻
自我诊断
过载保护
测量1800种设备
支持54/74系列TTL
支持4000和5000系列CMOS
测试管脚：28 pin
GUT-6000B固纬数字IC测试仪/Flash烧录器产品介绍GUT-6000B 是一款台式数字IC测试仪。为了自动完成测试任务，GUT-6000B 包含自动搜索和循环测试等**功能，以及智能化连续侦测坏损 IC 功能。自我诊断和过载保护功能使 GUT-6000B 较接近零维护，减少了用户不必要的麻烦。 GUT-6000B 可测试1800多种常见的TTL 和CMOS器件，真正在数字IC 测试领域实现一个机型测量所有器件的解决方案。
测试范围
 
54/74 系列 TTL
4000 及 4500 系列 CMOS
DRIVE
量测种类
 
约 1800 种
测试电压
 
2.5/3.0/3.3/5V DC
测试时间
 
高测试速度，平均 0.6 秒可完成一个 IC
使用电源
 
交流 100V~240V +10%, 50/60Hz
尺寸及重量
 
335(宽) x 105(高) x 300(长) mm
约 1.5 公斤

型号 : GUT-6000B ;
** : Gwinstek/固纬 ;
加工定制 : 否 ;

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