【**产品】三坐标非接触测量仪 微高度测量仪 金线精度测量仪

 
                           WDK2010—Z   三坐标非接触式测量仪
 
一、非接触测量仪特点:
   以裂像聚焦指示器为测量原理, 采用**光学聚焦点检测方式进行非接触高低差测量。不仅可以对准目标影像, 还能观察测量点的表面状态,对高度,深度,高低差等进行测量。本仪器的各种镜筒还具有明暗场，微分干涉，金相组织，偏光等观察功能。所以对金线弧高、较细微的间隙高低差、夹杂物、微米以下的突起、细微划痕进行观察。
 
二、非接触测量仪用途：
   适用于硅片、IC、LCD、TFT、PCB、MEMS激光加工、晶片测试、半导体材料、线束加工蚀刻、液晶电池盖、导线框架等产品的检查观察.也适用于经过磨抛、化学处理的工件表面的金相组织结构，几何形状进行显微观测。并且有三维的测量功能，其解析率达0.0005mm。因此是精密零件，集成电路线宽，半导体芯片，光伏电池，光学材料等行业的必用仪器。
 
三、非接触测量仪主要规格：
  1. 镜筒：铰链式三目头部  30°倾斜   270°旋转
  2. 高眼点平场目镜: WF10X/22
3.平场复消色差物镜：(可根据使用需求选择不同倍率的物镜)
f=200mm用全平场复消色差物镜/MPlan APO
物镜数据
 
倍率
2X
5X
10X
20X
50X
100X
NA
0.055
0.14
0.28
0.42
0.55
0.55
W.D(mm)
34
34
33.5
20
13
13
焦点距离(mm)
100
40
20
10
4
2
分解率(μm)
5
2
1
0.7
0.5
0.5
焦深(μm)
91
14
3.58
1.6
0.9
0.9
 
  4. 水平转换器：五孔转换器，可**测量精度
  5. 落射式照明系统：高亮度LED灯（5W）
  6. 调焦结构：粗微动同轴调焦, 带锁紧和限位装置，
粗动升降范围30mm，微动格值，0.001mm*100格，数显解析值 0.0005mm。
  7. 透射光源：LED光源，1W，亮度可调
Z轴升降范围：38mm以内，手轮转动130mm  允许较高工件 130mm，
导轨精度3+L/1000
X轴移动范围：200mm  解析率：0.001mm  可解锁手动快进，
 Y轴移动范围：100mm  解析率：0.001mm  可解锁手动快进，
    测量精度(3+L/100)um  (L: 被测长度,um)
    落射光测量误差≤0.08% 
  9.Z轴采用裂像法原理进行观察并测量，结合精密的Z轴导轨，可有效**测量的准确度。
  10.工作台尺寸: 360mm*250mm  玻璃板尺寸: 225mm *175mm  工作台承重: 30kg 
  11.仪器外型尺寸：380mm*550mm*830mm 
  12.净重：100kg  毛重：120kg
 
四、非接触测量仪对焦图标：
 

 
 
 

仪器特性 : 集金相、三坐标测量、微分干涉于一身 ;
** : 拥有二项** ;
测量方式 : 非接触测量 ;
适用范围 : 金线弧高和平行度测量，电子，教育，材料等 ;
外形尺寸 : 500X800X1200（mm） ;
定位精度 : 0.001（mm） ;
类型 : 水平臂式三坐标测量机 ;
型号 : WDK-2010Z ;
** : WDK ;
加工定制 : 是 ;

北京奥博通光学仪器有限公司是一家**生产和销售光学显微镜及实验室设备的公司，总部位于上海，依托本土生产园区熟悉市场需求的优势；立足于“我们设计 我们制造”的产业理念，贯彻“**技术 **服务”的营销宗旨，时刻为您提供满意的产品和贴心的服务。如今公司又将这种理念提升到“突显**光学科技 感觉无微不至镜界”的企业发展目标。2008年开始和日本瓦路达光电株式会社、opter光电株式会社进行技术开发合作，并聘请日本早稻田大学软件博士在公司设立工作站。这些**技术的入注让“光电”这个名词真正的实现人的眼睛和大脑智慧**结合的时代标志，是中国产业现状向世界**追赶不可缺少的重要进程，而这种标志和进程就是测维人的探索和追求！ 公司拥有**的加工中心，*的应用技术，可根据客户的需求，提供光学仪器部件设计，改制，技术升级，产品售前选型等个性化服务. 产品普遍应用于科学研究、食品制药、农林业、纺织纤维、半导体及微电子、金属材料、精密制造等行业. 主要产品：扫描显微镜、体视显微镜、生物显微镜、金相显微镜、金相分析软件、偏光显微镜、荧光显微镜、相衬显微镜、测量显微镜、工具显微镜、熔点仪、行业**显微镜、光纤冷光源、平行光管、折射仪等光学仪器，在国内久负**. 
**名称 : 奥博通
代理级别 : 其他