方源仪器供应**Oxford台式XRF射线荧光分析仪X-Strata920

方源仪器供应**Oxford台式XRF射线荧光分析仪X-Strata920
概述：
深圳市方源仪器有限公司—英国牛津仪器*中国总代理商!XRF射线荧光分析仪X-Strata920是一款低成本**、****的镀层厚度测量及材料分析设备。利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。
X-Strata镀层测厚仪是结构紧凑、坚固**、用于质量控制的**的台式X射线荧光分析设备，提供简单、**、无损的镀层厚度测量和材料分析。
X-Strata920在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出**的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。
 
X-Strata920为这些行业提供了：
以较有效的过程控制来提高生产力
有助电镀过程中的生产成本较小化、产量较大化
**无损地分析珠宝及其他合金
**分析多达4层镀层
操作简单，只需要简单的培训
无损分析：*样品制备
经行业认证的技术和**性，确保每年都带来收益
分析只需三步骤
**的分析准确性和**性
在镀层测厚领域拥有**过20年的丰富经验
镀层测厚仪X-Strata系列使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，**质量的同时降低成本。
 
**的性能：
**、**的分析：大面积正比计数探测器和牛津仪器50瓦微聚焦X射线光管（X射线光束强度大、斑点小，样品激发佳）相结合，提供较佳灵敏度
简单的元素区分：通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱
性能优化，可分析的元素范围大：X-Strata920预置800多种*选择的应用参数/方法
**的长期稳定性：
自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正，确保稳定的测试结果
例行进行简单**的波谱校准，可自动检查仪器性能（例如灵敏性）并进行必要的修正
坚固**的设计
可在实验室或生产线上操作
坚固的工业设计
 
运用领域行业：
电子行业
电子、电气原件
有效控制生产过程，提高生产力
确保元件**性
同时测量焊料合金成份和镀层厚度
优化质量控制，确保产品生命期
例如：
分析导电性镀层金和钯的厚度
测量电脑硬盘上的NiP层厚度
五金电镀行业
电镀处理的成本较小化，产量较大化
**简单的分析
同时进行单层或多层镀层厚度测量及成份分析
较多可分析4层镀层
镀液成份分析
金属合金行业
金属合金成份分析和牌号认定
珠宝及其他合金的**无损分析
贵金属合金分析
黄金纯度分析
材料鉴定
 
产品技术参数：
三种配置选项
固定样品台
 
样品台位置固定
经济、实用
平面样品台设计，适合高
度不**过1.3";(33mm)的样
品分析
加深样品台
 
高度每英寸(25.4mm)可
调，架构式样品舱可容纳
较大高度6.3";(160mm)的
样品
程控样品台
 
用于自动化测量
方便根据测试位置放置样品，
并**定位测量点
样品台尺寸：22";(D) x 24";(w)，即560mm (深) x 610mm (宽)
程控台移动距离：7"; x 7";，
即178mm x 178mm
 
中国代理商：深圳市方源仪器有限公司
电话：0755-8637260086372601  86372660      
电话：021-54888367 54888372  
传真：0755-86372606          E-mail:          
传真：021-54888351         E-mail: 

外形尺寸 : /（mm） ;
电源电压 : /（V） ;
显示方式 : 数显 ;
测量范围 : 多镀层厚度的测量（mm） ;
型号 : X-Strata920 ;
** : Oxford ;
类型 : 镀层测厚仪 ;
加工定制 : 否 ;