SIGMA西格玛可干涉长测定机DTM-CLMI

使用了1/4波长板和PBS的偏光迈克耳逊干涉仪，可测试半导体激光器的背景光的可干涉长度。首先使用He-Ne激光光源，调整好干涉仪，然后使用平台把反射镜移开，入射一束准直的半导体激光束。使用偏光板过滤掉激光成分，仅让背景光到达摄像头。一点一点地耐心调试可动反射镜找到出现干涉条纹的位置。可以观测到干涉条纹的范围便是其可干涉长度了。 品名型号数量激光组件DTM-05-LHP-1111偏光板组件DTM-DTPF-15C-322反射镜组件TFA-30C05-10-TSD-40801S11/2波长板组件DTM-WPP-15C-633-2M1PBS组件DTM-PBS-20-632811/4波长板组件DTM-WPP-15C-633-4M2反射镜组件DTM-TFA-30C05-102可动反射镜组件TFA-30C05-10-TSD-401S1凹透镜组件DTM-SLB-10-30NM1USB摄像头组件DTM-SKDCE-31D-TOP底板DOBC-26321 导购**
加工定制 否 类型 激光干涉仪 ** SIGMA 型号 DTM-CLMI 品种 激光干涉仪

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加工方式 : ODM加工;其他;来料加工;来样加工;来料代工加工;
工艺 : 热处理;冷成型;电镀;模具加工;雕刻、打号;
产品质量认证 : 其他;
**名称 : ETSC
质量控制 : 无