目的: 检查涂覆、电镀、化学镀所形成镀层厚度及其镀层均匀性 涂/镀层产品来料厚度检验 方法: 截面法(仲裁方法) X射线荧光膜厚法 依据标准: 截面法:GB/T 6462-2005,ASTM B 487-85(2002), ASTM B748-1990(2010) X射线荧光膜厚法:ASTM B 568-98,GB/T 16921-2005,ISO 3497
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