镀层厚度测量仪,金属镀层测厚仪

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德国Compact eco X-射线荧光分析测厚仪
Compact eco X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱**值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任. 轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的可以选择. 备有Compact eco , Compact 5 , Mixx4 , Mixx5等型号选择，可测量各类金属层、合金层厚度，附带功能：合金成份分析，电镀液成份分析，中文简体、繁体、英文操作系统。
可测元素范围：
钛(Ti) – 铀(U)
可测量厚度范围：
原子序22-25，0.1-0.8μm
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
自动测量功能：编程测量，自定测量
修正测量功能：底材修正，已知样品修正
定性分析功能：光谱表示，光谱比较
定量分析功能：合金成份分析
数据统计功能：x管理图，x-R管理图，直方柱图。

综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析
镀层分析:可分析三层厚度,*有的FP分析软件,真正做到无厚度标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您大大节省购买标准片的成本.*追赶其他**的所谓FP软件.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,*购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.

多年来，我们一直致力于为PCB 厂商，电镀行业，科研机构，半导体生产等电子行业提供**的仪器和**的售后服务。让客户满意，为客户创造较大的**是我们始终追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图！欲了解产品详情，请与我们联系或访

我公司是一精密测试仪器代理商，为中国香港仪高集团附属成员. 我集团在中国和中国香港地区少见代理韩国MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射线测厚仪及德国ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射线测厚仪。此两种仪器主要用于镀层或涂层厚度的测量，而且特别适合于对微细表面积或**薄镀层的测量。以下是我集团的其他主要产品：
美国INNOVX伊诺斯XRF-6500 RoHS分析仪
美国OMEGA 600SMD离子污染测试仪
美国UPA / VEECO非破坏性厚度测试仪
美国WALCHEM（禾威）电镀药液自动添加系统
美国CECO PCB基材测试系统
美国ECI电镀药液分析系统
美国EXTEC研磨 / 抛光器材及消耗品
美国UNITRON工业用显微镜系统及表面光滑度测试仪
美国DICKSON温湿度记录仪
美国SPELLMAN 高压电源供应器
日本KETT磁感/高周波涂层测试仪
日本KYORITSU水质离子测试包
英国JENWAY分光光度计
韩国SEC X-射线透视检查仪
德国SCANDIA研磨 / 抛光器材及消耗品
德国WTW实验室 / 工业用水*查系统
俄罗斯PTH-1/ITM-52手提式线路板孔铜测厚仪
新加坡Qmax CIMS 特性阻抗测试仪 

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