Dage X-ray X光测试仪设计满足PCB和半导体工业的增长需求,用户可以轻松获取高质量、高放大倍数和高分辨率下的被测物任何方位的图像。由于采用开管(Open Tube)技术,在放大倍数方面远远**过了采用闭管(Closed Tube)技术的X光检测仪达到亚微米级,能满足客户较**的需求。 主要特点 DAGE7500 VR X光无损检测系统 主要特征: -较小分辨率:950纳米(0.95 微米); -影像接收器左右偏转角度各70度(共140度),旋转360度; -图像采集:1.3M万数字CCD; -较大检测区域面积: 18”x 16”(458 x 407 mm); -较大样品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444mm); -系统较大放大倍数: 至5650X; -显示器: 20.1"(DVI interface)数字彩色平板LCD,(1600 x 1200PIXELS); -*性: 在机器表面任何地方X光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等 DAGE7600 NT X 光无损检测系统 -较小分辨率: 250纳米(0.25微米); -影像接收器左右偏转角度各70度(共140度),旋转360度; -较大检测区域面积: 18”x 16”(458 x 407 mm ); -较大样品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444 mm ) ; -系统较大放大倍数: 至 6500 X; -图像采集: 1.3 M万数字CCD; -显示器: 20.1"(DVI interface)数字彩色平板LCD,(1600 x 1200 PIXELS); -*性: 在机器表面任何地方 X 光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等 ……。 DAGE XD7800 VR或NT 大尺寸样品X光无损检测系统 Dage XD7800VR或NT是专门用于大尺寸样品的X光无损检测的系统。 主要特征: -较小分辨率: 950 纳米 (0 .95 微米 ); -影像接收器左右偏转角度各70 度(共 140 度),旋转 360 度; -较大检测区域: 24 ” x 30” (610 x 762 mm ); -较大样品尺寸: 24.3” x 33” (617 x 838 mm ); -较大样品重量: 10KG ; -系统较大放大倍数: 至 5650 X ; -图像采集: 1.3 M 万数字 CCD ; -显示器: 20" (DVI interface) 数字彩色平板 LCD
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