数字集成电路测试仪,(YBD-868)特价**中

一.数字集成电路测试仪(YBD-868) 特价 **中
YBD868型数字集成电路测试仪是一种性能较高的通用仪器,测试脚数较大为双列直插式40脚，可测范围复盖了大多数的数字集 成电路，测试准确**，操作简便，基本功能如下:
------* 器件好坏测试 ----------* 器件型号判别
------* 器件动态老化 --------- * 器件代换查询 
三．技术指标
1．操作系统：十六位轻触式立体键盘双音提示系统,被测器件安装采用锁紧插座。
2．显示系统：六位数码管显示器显示被测器件型号或各种功能提示，四只LED显示仪器工作状态。
8. 外形尺寸：292*235*75立方厘米 
9. 整机重量：2.0KG
四. 测试范围
YBD868型数字集成电路测试仪库存容量两千多片，包含以下各大系列:
1. TTL54系列
2. TTL55系列
3. TTL74系列
4. TTL75系列
5. CMOS14系列
6. CMOS40系列
7. CMOS45系列
8. 光耦合器系列
9. LED显示器系列
10. 常用RAM系列
11. 常用单片机系列
12. 微机外围电路系列
五. 功能综述
1. 器件好坏判别: 当未知被测器件的好坏时，只要输入该器件的型号,并将器件放于对应的工作插座上，可判别出该仪器件的好坏。
2. 器件型号判别: 当未知被测器件的型号时，只需输入该器件的引脚数目，并将被测器件放于对应的工作插座上仪器即可立即判别出该器件的型号。
3. 器件代换查询: 输入欲查询的器件型号，按下“代换查询“键就可知道是否有逻辑功能与之*相同的其它器件。
4. 器件动态老化: 当怀疑被测器件的动态稳定性时，只要输入该器件的型号，并将被测器件放于对应的插座上，按下“动态老化“键,仪器就可对该器件进行动态老化和连续测试