供应x荧光膜厚仪

x荧光膜厚仪产品特点： 
★ X射线发生系统采用了聚光导管
由于采用了X射线聚光导管方式，可得到以往十倍以上的X射线强度，从而可以提高微小样品的镀层膜厚测量及有害物质测量的精度。
★ *液氮的半导体检测器 
在进行薄膜测量与有害物质的浓度测量时，高分辨率的检测器是**的,不但可以达到高分辨率，而且可以实现高计数率。同时，由于使用了电子冷却方式，所以*液氮。
★ 能谱匹配软件
可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。对识别材料十分有效。
★ 块体检量线软件（适用于电镀液分析） 
可简单地测量出电镀液中主要金属的浓度。
★ 绘图软件（选配件） 
将元素面分析的结果进行等高线和色彩使用等视觉处理的软件。
★ 电镀液容器（选配件）
★ 各种标准物质（选配件）
x荧光膜厚仪
x荧光膜厚仪随着半导体制造技术向亚微米及深亚微米方向发展，各种精密测试设备也层出不穷。以精密设备为主的测试技术日益成为半导体制造业发展过程中的一大研发主题。在集成电路产业“十一五”专项规划中，也把测试技术作为发展**之一，定位为适应较高要求的主流技术。膜厚测试仪作为半导体制造工艺过程中较基本、较常用的测试设备，当工艺技术发展到亚微米及深亚微米时，对它的精密度要求越来越高。
x荧光膜厚仪经过20多年的努力, 现在的x荧光膜厚测试仪能够准确的测量微小面积的镀层厚度，测量精度达到纳米级,已被全世界电子零部件、印制电路板、汽车零部件、各种电镀产品生产及相关厂商广泛使用和认可。
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