供应薄膜**测厚仪

薄膜**测厚仪适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度**测量。
 
薄膜**测厚仪特  征 
微电脑控制、液晶显示
菜单式界面、PVC操作面板
接触式测量
测头自动升降
自动进样
手动、自动双重测量模式
数据实时显示、自动统计
显示较大值、较小值、平均值和统计偏差
可设进样步距、测量点数、进样速度等参数
标准接触面积、测量压力（非标可选）
显示较大值、较小值、平均值和统计偏差
标准量块标定
RS232接口
网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输
薄膜**测厚仪技术指标
测量范围：0～2mm
                    0～6mm；12mm（可选）
分 辨 率：0.1μm
测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张） 
接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张） 
          注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
进样步距：0～1000mm
进样速度：0.1～99.9mm/s
电        源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：461mm（L）×334mm（B）×357mm（H）
净         重：32kg
薄膜**测厚仪标   准
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
薄膜**测厚仪配  置 
标准配置：主机、标准量块一件
了解更多产品信息，请致电Labthink兰光广州代表处020-81095968 或邮件。本信息由济南兰光广州代表处 黄小姐发布

Labthink兰光，检测仪器与检验服务良好的提供商，持续为**范围医药、食品、日化、包装、印刷、胶粘剂、汽车、石化、环境、生物、新能源、建筑、航空及电子领域客户提供较良好、较*的品质控制解决方案。
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