供应韩国MicroPioneer测厚仪

韩国Micro Pioneer  XRF2000系列镀层测厚仪

产品介绍
X 萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用於材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。  
XRF-2000 系列分为以下三种：  
1. H-Type :密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度约100mm以下。  
2. L-Type : 密闭式样品室，方便测量 样品较小，高度约30mm以下。  
3. PCB-Type : 开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测 。   
应用 : 
测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可侦测元素的范围： Ti(22)~U(92 )。   
行业 :  
五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。   
特色 : 
  非破坏，非接触式检测分析，**精準。 
  可测量高达六层的镀层 (五层厚度 + 底材 ) 并可同时分析多种元素。 
  相容Microsoft微软作业系统之测量软体，操作方便，直接可用Office软体编辑报告 。 
  全系列*特设计样品与光径自动对準系统。 
  标準配备: 溶液分析软体 ，可以分析电镀液成份与含量。 
準直器口径多种选择，可根据样品大小来选择準值器的口径。  
  移动方式：全系列全自动载台电动控制，减少人为视差 。  
  *特2D与3D或任意位置表面量测分析。 
  雷射对焦，配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。 
标準ROI软体 搭配内建多种**报告格式，亦可将数据、图形、统计等作成完整报告 。 
光学2 0X 影像放大功能，较能**对位。  
单位选择： mils 、 uin 、 mm 、 um 。 
  优於美製仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的较佳优势。  
  仪器正常使用保固期一年，强大的**技术支援及良好的售后服务。 
  测试方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。 

深圳市锦贤科技有限公司（SHENZHEN GENESEA TECHNALOGY CO., LTD.）是一家**从事进口仪器仪表、机电设备代理、销售及技术服务的有限责任公司，服务对象主要为厂矿、企事业单位、科研院所及大专院校。公司主要员工均为仪器仪表、机电设备行业*人士，有着较为丰富的实际工作经验，可以为广大客户提供**的售前咨询及**的售后服务。
 
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主要经营的仪器仪表：
韩国Micro Pioneer XRF-2000系列测厚仪
德国ROENTGENANALYTIK宏德X-射线测厚仪
美国Kocour库仑测厚仪（标准片）、侯氏槽、阴/阳极片、离心机等
美国DICKSON/DeltaTRAK/OMEGA温（湿）度记录仪
美国CalMetics X-Ray金属镀层测厚仪标准片
日本KYORITSU共立WAK-水质离子测试包
美国WALCHEM（禾威）自动添加控制器
美国CMI孔面铜测厚仪
美国DolanJenner光纤光源
美国EXTEC研磨 / 抛光器材及消耗品
俄罗斯INTRON PHT-2/ITM-525 、PTH-1/ITM-52手提式线路板孔铜测厚仪
新加坡QTEST CIMS 特性阻抗测试仪
美国UPA / VEECO非破坏性厚度测试仪、标准片
美国SCS OMEGA 600SMD/Ionograph 500M SMD离子污染测试仪
美国S.E.(SEINTL)辐射检测仪
德国SCAN-DIA研磨 / 抛光器材及消耗品
英国JENWAY分光光度计
日本IWAKI工业用泵
美国BARCOR、Kwik-Chek孔径测量规
美国ECI电镀药液分析系统
日本KETT磁感/涡流涂层测试仪
美国INNOV-X伊诺斯RoHS分析仪(手提式:XRF 6500，台式:Ray-tek1800)
日本SHIMADZU(岛津)分光光度计、X射线荧光分析仪
韩国K-Mac ST4080-OSP 光学测厚仪
美国Solar Metrology 太阳能薄膜电池厚度测量仪
美国SPELLMAN 高压电源供应器
美国RPS可焊性测试仪
美国MetOne尘埃离子计数器
美国UNITRON工业用显微镜系统及表面光滑度测试仪
美国EXTECH多用途万用表
美亚板材厚度测试仪、铜箔剥离强度仪
蔚仪研磨/抛光器材及耗材
 
主要经营的工业胶带**：
DIC，3M，SONY，NI**，寺岗
电子胶水**：
信越，GE东芝，乐泰
          
深圳市锦贤科技有限公司真诚希望能同您和您的公司携起手来，共同发展。我们能给您提供较好的服务、较好的价格。 
 
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