供应XDLM-C4 X射线测厚仪

XDLM-C4 X射线测厚仪

FISCHERSCOPE® XDLM®-C4 是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。

微聚焦X-射线管以及电机带动的有4个不同尺寸视准器组成的视准器组使得XDLM®-C4成为测量大批量生产部件的理想测量仪器，例如螺丝，螺母和螺栓。可选择的钴接收器有效地解决铜上镀镍的测量应用问题

XDLM®-C4的特色是*特的距离修正测量方法。DCM方法（距离控制测量）自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别，简便了测量复杂几何外形的测试工件和在不同测量距离上的测量。

与WinFTM® V.6软件及校样标准块Gold Assay结合，XDLM®-C4作为FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分， **地适用于**，非破坏性和**的测量珠宝及贵金属中金的成分。

 

HELMUT FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有**过17年的经验。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的**处理和使用了较新的软件和硬件技术，FISCHER公司的X射线仪器具有其*特的特点。

*一**的WinFTM®（版本3（V.3）或版本6（V.6））软件是仪器的**。它可以使仪器在没有标准片校准并**一定测量精度的情况下测量复杂的镀层系统，同时可以对包含多达24种元素的材料进行分析（使用WinFTM® V.6软件）

典型的应用范围如下： 

单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 

二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 

三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。 

双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。 

双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。 

较多24种镀层（使用WinFTM® V.6软件）。 

分析多达4种（或24种－使用V.6软件）元素。 

分析电镀溶液中的金属离子浓度。 

 

 
 FISCHERSCOPE®
X-RAY
XDLM®-C4
 
测量方向 
 从上往下
 
X-射线管型号

W: 钨管
MW: 微聚焦钨管 
 MW
 
可调节的高压
30kV; 40kV; 50kV 
 
 
开槽的测量箱体 
 
 
基本Ni滤波器 
 
 
接收器(Co)
可选择的
WM-版本 
 
 
数准器数目 
 4
 
z-轴 
 电机驱动的或可编程的
 
测量台类型 
 手动XY工作台或
可编程的XY工作台
 
测试点的放大倍率 
 20 - 180 x
 
DCM方法
(距离控制测量) 
 
 
WinFTM® 版本 
 V.3 标准
V.6 可选择
 
操作系统：
Windows XP prof. 
 
 

 

 

FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-C4 仪器系列

目前类型

FISCHERSCOPE® X-RAY    手动的XY工作台和电机驱动的X-射线测量头Z-轴运行

XDLM®-C4 XymZ           

FISCHERSCOPE® X-RAY    可编程的XY工作台和可编程的

XDLM®-C4 XYZp          X射线测量头Z-轴运行

                          XY工作台定位精度要求不高时，是非常适合的

FISCHERSCOPE® X-RAY   可编程的**XY工作台和可编程X-射线测量头Z-轴运行

XDLM®-C4 PCB           尤其是专为测量小部件或侧试点而设计，例如线路板上的导电片或导电带

尺寸

测量头                    宽 = 570 mm; 深 = 740 mm; 高 = 650 mm

测量箱体                  宽 = 460 mm; 深 = 500 mm; 高 = 300 mm

 

 

 

 

  

涂装 相关仪器：涂层测厚仪，漆膜硬度测试仪，电解膜厚仪，黏度计/粘度计，X射线测厚仪，附着力测试仪，微型光泽仪，分光色差仪，雾影仪，反射率测定仪，光谱仪，涂膜干燥时间记录仪，标准光源箱

苏州圣光仪器有限公司多年来一直从事测试仪器仪表设备的开发、研制、代理、销售与服务工作，是集生产与销售为一体的高科技企业。公司拥有一支年轻有为、朝气蓬勃的**班子及技术人员，并与国内**高校有着广泛的合作关系。圣光仪器致力于把国外的**高科技产品在国内*推广与应用，与国外*仪表生产厂商有着广泛的技术与销售合作的良好基础。并作为德国菲希尔、德国EPK、德国KK(美国GE）、美国泛美、美国雷泰、英国凯恩、英国易高、日本美能达、时代集团、闽台固纬等公司的中国销售代理。