• 金相分析仪 CY-II

    金相分析仪 CY-II

  • 2010-03-16 20:39 146
  • 产品价格:面议
  • 发货地址:海外包装说明:不限
  • 产品数量:不限产品规格:不限
  • 信息编号:20108415公司编号:1076245
  • 雷亮 经理
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    产品描述
    长安**溢仪器仪表商行长期供应销售供应金相分析仪 CY-II:
    本产品适用于普通测量工具无法测量的领域,如尺寸微小的拉丝线、钻石、玻璃、化工、LED表面晶体分布情况,线路板镀层厚度,表面杂质的大小、分布情况等不规则物体,还可以绘制简单的图形。**用于小部件或小产品的测量!低成本解决高难度测量要求。 
    金相分析仪的详细介绍
    产品功能:
    新建文件、打开文件、保存文件、设定比例尺、系统校正、测量角度、测量线段长度、测量距离、测量图、弧及两个圆偏心、画线、圆、弧及线段之垂直线、水平线,修改线段、标注尺寸、自动检测、自动寻边、可将当前影像拍下,以BMP档案格式储存,且可移动X.Y轴向,前后左右移动桌面,避免用手移动工件造成检测误差。
    产品特点:
    测量方便、可以直接进行微观标注尺寸,得出测量数据,也可以直接绘图,简单、**度高、易学易懂、描边过程可以任意调整,直到满意之后,可以将所画图形输入AutoCAD中,成为完整的工程图。
    技术参数:
    W×D×H 200×350×650mm
    较小读数 0.0001mm 
    测量精度:放大到400X时可达±2μm
                   放大到800X以上时可达±1μm
    输入电压 110~240V
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