• 电镀镀层测厚仪

    电镀镀层测厚仪

  • 2010-03-01 10:59 185
  • 产品价格:面议
  • 发货地址:广东省深圳市包装说明:不限
  • 产品数量:不限产品规格:不限
  • 信息编号:18501039公司编号:493329
  • 王明 销售部
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    产品描述
    产品型号:SFT9300、SFT9350、SFT9355
    技术参数:
    可测量元素:原子序数22(Ti)~83(Bi) 
    X射线源:小型空气冷却型高功率X射线管球(Mo靶)
                      管电压: 50kV 管电流: 1.5mA Be 窗 
    滤波器:一次滤波器:Mo 二次滤波器:Co (自动切换) 
    照射方式:上方垂直照射方式
    检测器:比例计数管 
    准直器:方型:0.025×0.2mm 0.2×0.025mm 
                     圆形:Φ0.05mm Φ0.1mm Φ0.2mm
    *性能:样品室门自锁功能、样品防冲撞功能、自动诊断功能
    样品图像对焦方式:激光自动对焦
    
    样品观察:彩色CCD摄像头倍率光学器 卤素灯照明 
    样品平台大小及承重: SFT9300:240mm(W) ×170mm(D) 10kg 
                         SFT9350:420mm(W) ×330mm(D) 5kg 
                         SFT9355:700mm(W) ×600mm(D) 3kg
    重量:SFT9300/SFT9350:125kg (不含电脑) 
                 SFT9355:130kg(不含电脑) 
    修正功能:底材修正、已知样品修正、人工输入修正 
    测量报告书制作:配备MS-EXCEL? MS-WORD?(使用宏支持自动制作测量报告书) 
                                      测量能谱与样品图像保存功能
    产品特点:
    ★ 75W高功率X射线管 
         能够提高X射线的生产效率,实现**的测量,有效缩短测量时间,只需过去的1/4 
    ★ **微小型准直器 
         除了搭载了标准配置的50μm准直器,还配备了测量微小部位用的15μm准直器 
         对应所选择准直器的实际X射线光束照射的尺寸,可以显示在样品画面上 
    ★ 倍率式光学系 
            可以准确地对微小部分进行对焦,还可以对应各测量点间有高低的样品 
    ★ 实现了**自动X-Y-Z样品台与图像处理软件的高速自动测量 
    ★ 拥有防冲功能 
    ★ 搭载**样品平台,较可测量大型线路板(SFT9355) 
    ★ 自动对焦功能 
            配备激光自动对焦功能,能够准确对焦,提高测量效率。 
    ★ 即时生成测量报告的便捷性 
            运用搭载的Microsoft Word? Excel? 可以简单轻松得到制作报告。 
    ★ 搭载了高功率X射线管 
    ★ 拥有自动测量软件以及中心搜索软件 
    ★ 搭载了薄膜FP法软件、图像处理软件以及块体FP法软件
    1.可实现**几**的微小样品检测较小样品尺寸直径3.5um 
    2.*决定微小测量部位 
    3.影像对焦系统 
    4.凹凸样品的凹下部位的测量 
    5.再现性

    日本精工电子有限公司(Seiko Instruments Inc.简称SII),于1978年良好于其他厂商,研究开发出日本**台荧光X射线镀层厚度测量仪-SFT155。经过二十多年的努力,现在的荧光X射线镀层厚度测量仪能够准确地测量微小面积的镀层厚度。现已为全世界电子零部件、印刷电路板、汽车零部件等相关厂商提供了5000台以上的测量仪,深受用户的依赖与**。从此,“SFT”几乎成为镀层厚度测量仪的代名词。 
    随着市场竞争的愈加激烈及产品较新换代的加快,客户需求也日新月异。为了迎接新世纪的挑战,本公司在SFT9000系列的基础上又推出较**的SEA5000系列仪器,较加充实了荧光X射线镀层厚度测量仪的应用领域

    欢迎来到瑞环中国香港有限公司网站,我公司位于经济发达,交通发达,人口密集的中国经济中心城市—深圳。 具体地址是广东深圳公司街道地址,负责人是陈。
    主要经营膜厚仪。
    单位注册资金:人民币 10 万元 - 30 万元。
    欢迎关注本公司,本公司专业经营精工镀层测厚仪,膜厚仪等产品,拥有经典的技术和一流的服务!

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日本精工电子有限公司(Seiko Instruments Inc.简称SII),于1978年良好于其他厂商,研究开发出日本**台荧光X射线镀层厚度测量仪-SFT155。经过二十多年的努力,现在的荧光X射线镀层厚度测量仪能够准确地测量微小面积的镀层厚度。现已为全世界电子零部件、印刷电路板、汽车零部件等相关厂商提供了5000台以上的测量仪,深..
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