供应孔隙率测量仪

静态容量法孔隙率测量仪JW-BK技术参数如下：

主要功能：孔隙率测量仪可实行BET比表面（多点及单点）测试，Langmuir比表面测试，炭黑外

比表面测定，吸附、脱附等温曲线测定， BJH孔径分布、总孔体积和平均孔径测定；

真空系统：极限真空度6×10-2Pa

测量范围：比表面 ≥0.01M2/g 至无规定上限，孔尺寸 0.7~ 400nm ;

样品数量：孔隙率测量仪可同时测定1-4个样品；

测量精度：≤± 2% ；

压力控制：孔隙率测量仪**压力传感器，数字显示，精度 0.2%，*特的充气与抽气速度自

动控制系统

运行方式：高度自动化，智能化，长时间运行可以无人看管自行测试

测试时间：孔隙率测量仪多点BET法比表面平均每个样品15分钟，孔径分布测试、孔隙度测试平

均每个样品100分钟

测试气体：高纯氮气（不用氦气），氮气消耗量较小

吸附过程：JW-BK孔隙率测量仪样品不需要频繁从液氮杜瓦瓶中进出，液氮消耗较少

软件系统：孔隙率测量仪在Windows平台上，提供过程控制和数据采集、处理、报告系统，多种

测试方法可自由方便选择，在计算机屏幕上，同步显示吸、脱附，测试过程、可随时查看已完成部分的测

试数据；本机软件功能强大、界面友好、兼容性高、使用方便；

北京精微高博公司是集研制、生产、销售为一体的**企业。公司拥有一批材料研究、仪器仪表及计算机领域*及去*顾问团队，致力于材料表面特性表征与测试方法的结合研究，为科研单位及生产企业提供*、**的分析测试仪器。目前公司主要致力于粉体材料比表面积和孔径分布测试仪器研发及生产，主要产品有JW-04比表面积测试仪，JW-004两用型比表面积测试仪，JW-K孔径分布及比表面积测试仪，配套产品有比表面积测试所需的样品制备装置--JW吹扫仪，可为比表面积及孔径分布物性测试提供整体解决方案。仪器采用**上通用的氮吸附测试方法及理论原理，可进行BET法、“直接对比法”比表面积测定及BJH等中孔孔径分布测定。 
　　 
　　仪器充分吸取了国外同类产品**经验，同时在动态氮分压**控制等技术方面又有很多新的突破和**，填补了国内空白。整体设备性能无论从测试精度、稳定性、测试结果可重复性，还是测试*性等方面都达到了**同类产品水平，国内处于良好地位。目前系列产品在地区*检测机构，**科研院所及国内外**大企业中都有成功应用案例，并走向**市场。产品质量稳定，*，**、完善、及时、*的售后服务较是得到了用户的高度赞誉。