3D扫描与逆向工程由于消费性电子产品对其外观曲面的要求越来越高,在曲面光滑性和精度上也有着越来越高的要求,传统的尺寸检测方法已经不能满足其要求。微观尺寸检测采用布鲁克的3D白光干涉仪、东京精密的2D探针轮廓仪、扫描电子显微镜等****精密设备,能为企业提供微米、纳米级别的微观尺寸量测、3D形貌扫描分析、非常规尺寸(如微小部件的R角半径、样品表面异常分析等)以及表面粗糙检测等服务,帮助企业解决一系列产品开发、生产过程中出现的各种异常状况,协助企业管控生产质量。服务项目:3D扫描:3D任意外观曲面扫描 3D现场扫描产品3D CAD Model建构易变形弹性曲面扫描量测3D实体色阶比对表面缺陷分析2D边缘轮廓色阶比对边缘缺陷分析 逆向工程:分析竞争对手产品设计产品或模具自由曲面建构 快速样品制作之CAD图档建构使用设备:3D轮廓扫描机器人3D轮廓扫描仪手持式扫描仪等服务项目:FAI(产品件检验) TVR(模具验证) CpK (制程能力验证及分析) GR&R (量测能力验证及分析)普通尺寸检测形位公差检测表面粗糙度参数含义Ra评定轮廓算术平均偏差:在一个取样长度内纵坐标值的的算术平均值。Rz轮廓大高度:在一个取样长度内,大轮廓峰高与低轮廓谷深之间的距离。(在GB/T 3505-83版中Rz曾用于表示‘不平度的十点高度’。)Rt轮廓总高度:在评定长度内大轮廓峰高和低轮廓谷深之间的距离。(由于评定长度≥取样长度,故Rt≥Rz)Sa评定表面算术平均偏差:在取样面积内纵坐标的的算术平均值。(3D光学干涉法测量出的面粗糙度,适用于Ra≤0.8微米的表面粗糙度)Rq评定轮廓的均方根差:在一个取样长度内纵坐标的均方根值。测量方法:探针接触式测量法、光学干涉非接触式测量法检测设备:2D轮廓扫描仪、3D光学干涉仪成都检测中心拥有一批高精密度的大型检测设备和一批训练有素的检测的团队,能够为客户提供的尺寸检测与形位公差检测服务。
*是一家多元化、综合性的第三方检测机构,总部设在四川成都。公司本着严谨、规范的严格执行现行标准、规范及规程,奉行“科学、准确、持续改进、诚信服务”的企业**和“科学、信誉、服务”的企业宗旨,竭诚为广大客户服务。 公司依据《实验室资质认定评审准则》、《检测和校准实验室能力认可准则》,建立了完善的质量保证体系,确定了“创建优质服务,满足质量要求”的质量目标。技术方面由检验、检测各领域的*和经验丰富的实验人员组成,实验设备采用国内外仪器,确保数据准确,检出限达到科研级水平。管理方面建立了优良、健康的管理体制,设计、和谐的工作环境。 本中心长期以来注重和国内研团队、**机构、大型企事业单位紧密的学习、交流、合作,为公司稳健发展提供有力**。科学严谨、立、勇于创新、锐意进取,力争打造第三方检测领域成员企业。