连云港综合性检测机构-表面绝缘阻抗测试-CNAS认可

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SIR测试是表面绝缘电阻测试的简称，主要用于评估印制电路板、组件表面及周围相邻线路区域的表面清洁度（包括加工、制造过程的残留）对表面绝缘电阻的影响；评估产品使用物料（助焊剂、锡膏、阻焊膜等）的耐SIR能力及等级。

导电阳丝是一种由于电化学反应导致的失效类型，这种失效模式是PCB内部的一种含铜的丝状物从阳向阴方向生长而形成的阳导电形细丝物，简称CAF。CAF的形成是由于玻纤结合的物理破坏，在潮湿的环境下导致玻纤分离界面中出现水介质，从而提供了电化学通道，促进了腐蚀产物的输送。

离子迁移是由与溶液和电位有关的电化学现象所引起的，与从金属溶解反应、扩散和电泳中产生的金属离子移动反应及析出反应有关，发生过程可分为以下三种情况： 
1.阳反应（金属溶解） 
2.阴反应（金属或金属氧化物析出） 
3.电间发生反应（金属氧化物析出）

测试目的:
     •变动电路板设计或布局          •更改清洁材料或工艺
       •变更助焊剂和/或锡膏           •变更回流焊或波峰焊工艺
       •使用新色敷形涂料或工艺      •考核裸板供应商资质
       •基于可靠性的产品标定
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