优尔鸿信,多年从事电子产品及半导体检测服务,机构的电子元件检测实验室配备有FIB聚焦离子束、扫描电镜、工业CT、超声波C-SAM等**设备,可提供电子产品、电子元器件、半导体零件的质量检测及失效分析。
应用领域:扫描电镜广泛应用于金属材料、涂层、半导体、生物医学等领域的表面和界面研究。
透射电镜(Transmission Electron Microscope,TEM)
扫描电镜原理:
扫描电镜利用高能量电子束轰击样品表面,激发出样品表面的物理信号,再利用不同的信号探测器接受物理信号转换成图像信息,可对陶瓷、金属、粉末、塑料等样品进行形貌观察和成分分析。
扫描电镜测试项目:
SEM:形貌观察,利用背散射电子(BEI)和二次电子(SEI)来成像。
EDS:成分分析(半定量),通过特征X-RAY获取样品表面的成分信息。
样品要求:
1.试样为不同大小的固体(块状、薄膜、颗粒),并可在真空中直接进行观察。
2.试样应具有良好的导电性能,不导电的试样,其表面一般需要蒸涂一层金属导电膜
扫描电镜的运用:
扫描电镜相关测试常和切片技术结合一起做相关测试,如:
IMC观察
锡须观察
表面成分分析
异物分析
微观尺寸量测
金属镀层/涂层厚度检测
制样步骤
取样
尺寸限制:样品体积不宜过大,以减少不必要的观察量。
前处理
干燥:对含水或湿润的样品进行干燥处理。
除尘去屑:样品表面的灰尘和碎屑,以免影响观察效果
固定/制样
通过固定处理保持样品的原始形态和结构,或者通过灌胶(微小样品)等方式固定样品。
清洗
样品的表面残留和其他杂质,如超声波清洗法。
喷涂导电层
增强样品的导电性,确保扫描电镜观察时电子束的正常路径,避免电荷积累和放电现象导致的图像不清晰。
在真空条件下使用离子溅射仪喷涂一层金属导电膜(如金、铂、碳等),厚度一般根据扫描电镜类型和观察需求确定。
上镜观察
将准备好的样品放入扫描电镜中进行观察和分析。
电镜扫描及能谱分析(SEM-EDS)是一种强大的材料表征技术,它结合了扫描电子显微镜(SEM)与能量色散光谱仪(EDS),能够同时提供样品的微观形貌信息及其化学成分组成。这种组合不于观察表面结构,还能进行定量或半定量的元素分析,广泛应用于材料科学、生物学、地质学等多个领域。
扫描电镜作为一种强大的分析工具,因其能够提供样品的高分辨率表面图像和详细的化学成分信息,在多个学科和技术领域中得到了广泛应用。以下是几个主要的应用领域:
材料科学
在材料科学研究中,SEM-EDS被用来研究材料的微观结构、相组成、元素成分及其分布等特性。例如,在金属合金、陶瓷、复合材料等领域,这些设备有助于研究人员深入了解材料的性能优化和失效机制。此外,它还可以用于纳米材料的研究,帮助揭示纳米颗粒的元素组成。
地质学与矿物学
SEM-EDS技术在地质学和矿物学中同样扮演着重要角色,常用于矿物、岩石和化石的微观结构及元素组成分析。通过观察不同矿物颗粒的形态和元素分布,可以揭示地质历史和成矿过程等关键信息。例如,它可以用来识别矿物种类,并对矿物中的微量元素进行定量或半定量分析。
环境科学
环境科学家利用SEM-EDS探究颗粒物、污染物、土壤等样本的形态和化学成分,对于评估环境污染程度、制定治理方案等至关重要。这项技术可以帮助确定污染源,并监测环境中存在的有害物质。
电子元件分析
电子行业也广泛采用SEM-EDS来进行故障诊断,包括检测元件内部的材料成分,分析腐蚀情况、磨损状况等。
失效分析
当产品出现质量问题时,SEM-EDS可以在失效分析过程中发挥重要作用,比如定位断裂源,分析断口形貌,确定导致问题的具体原因。
扫描电镜的测试项目涵盖了从形貌观察到成分分析、从微观结构到三维重建的多种功能,广泛应用于材料科学、生物学、地质学、纳米技术等领域。根据具体需求,可以选择合适的测试项目进行分析。
优尔鸿信检测技术(深圳)有限公司旗下的成都检测中心(华南检测中心成都分支)成立于1996年,配合高科技电子产品设计、验证、生产过程的检测需求组建科技实验室,创始团队汇集科技精英、凭借雄厚的技术背景和开拓创新精神,在一张白纸上点石成金。华南检测中心迄今发展成目**大功能22个专业的实验室,主要检测设备4300余台(套),拥有1500人的管理、技术人员团队,打造了一个提供快速、精密、准确检测能力、服务网络遍及全国的大型旗舰实验室。于2003年**中国国家合格评定**(CNAS)的初次认可,检测能力获得苹果、戴尔、惠普等**客户的认可,实现[一份报告、**通行]。 检测业务主要分为:尺寸量测与3D工程、仪器校准、材料分析(金属、塑料)、有害物质检测、电子零组件失效分析、物流包装测试、可靠性分析(气候、机械)、仿真分析、热传测试、声学测试、食材检测(微生物、理化检测)、儿童玩具测试、汽车材料及零部件检测、产品认证等。