巴中电子元件失效分析技术 全国多个大型实验室

优尔鸿信检测SMT实验室，多年从事电子元器件检测服务，实验室配备有多种型号的C-SAM、X-RAY、工业CT等无损检测设备，可提供PCB到PCBA各个环节的检测服务。
C-SAM，是一种利用超声波技术检测物体内部结构和缺陷的高分辨率成像设备。
C-SAM超声波扫描原理：
C-SAM利用超声脉冲波探测产品内部空隙等缺陷。超声波在样品内部传播时，遇到不同密度或弹性系数的物质界面时会产生反射回波。回波被换能器接收并转换为电信号，经过处理后形成图像，显示样品内部的结构和缺陷信息。
C-SAM检测特点
1.非破坏性测试：在检测过程中对样品造成物理损伤，保证了样品的完整性和可重复使用性。
2.高分辨率：能够实现微米级别的分辨率，准确识别样品内部的微小缺陷。
3.多模式扫描：支持C-Scan（表面及横向截面扫描模式）、B-Scan（纵向截面成像模式）等扫描模式。
4.直观成像：直观展示样品内部的结构和缺陷情况，便于分析和判断。
C-SAM超声波检测应用领域：
1.电子行业：在集成电路制造过程中，C-SAM可以检测芯片封装内部的分层、裂纹、空洞等缺陷；
2.半导体行业：C-SAM可用于检测半导体器件，如分立器件芯片、IGBT模组、晶闸管等，通过声波穿过半导体材料的能量损失情况，判断工件的缺陷变化。；
3.汽车工业：对于汽车电子控制单元（ECU）等关键部件，C-SAM可以检测其内部芯片的结构和缺陷；
4.失效分析： C-SAM超声波设备能够检测并定位产品内部的失效点，如焊接不良、分层等，助力产品失效分析。
C-SAM超声波检测以其无损检测、快速、度高、可视化分析、广泛应用、安全性高和灵活性等优势，在现代工业的无损检测领域发挥着重要作用。

FIB（Focused Ion Beam，聚焦离子束）技术在微电子领域中有着广泛的应用，尤其是在PCB板的检测与失效分析方面。FIB设备能够实现纳米级别的加工与成像，为研究者提供了强大的工具来探索材料的微观结构和性能。
FIB的基本原理
FIB技术利用高能离子束对样品表面进行轰击，通过控制离子束的能量和流强可以实现材料的去除（刻蚀）、沉积、改性和成像等操作。通常使用的离子是离子（Ga+），因为离子源具有较高的亮度和较长的工作寿命。FIB系统通常配备有SEM（扫描电子显微镜），可以在同一台设备上同时实现离子束加工和电子束成像，提供高度的空间定位能力。
FIB的主要功能
成像：FIB可以像电子束一样在样品表面进行逐行扫描，通过收集二次电子或二次离子信号，生成高分辨率的表面形貌图像。与SEM相比，FIB成像具有的深度穿透能力和较高的衬度，特别适合多晶材料的晶粒取向和晶界分布分析
材料分析：FIB可以与EDX（能量色散X射线光谱）、EBSD（电子背散射衍射）等分析手段结合，对材料的化学成分和晶体结构进行详细分析。
电路修复与修改：在半导体工业中，FIB常用于对芯片内部的电路进行微调或修复，例如切断或连接特定的导线。
断面制备：FIB可以地切割出样品的横截面，以便观察内部结构，这对于PCB板的失效分析尤为重要。
失效分析：当PCB板出现故障时，可以通过FIB技术地切除故障区域，然后使用SEM或其他分析技术对故障部位进行详细的微观结构分析，以确定失效的原因。比如，检查是否存在焊接不良、材料缺陷、腐蚀等问题。
FIB作为一种高精度的加工和分析工具，在PCB板的检测和失效分析中发挥着的作用。随着技术的不断进步，FIB的应用范围还将进一步扩大，为电子制造业带来更多的可能性。

PCB板OSP膜，全称为Organic Solderability Preservatives，即**保焊膜，是印刷电路板（PCB）铜箔表面处理的一种工艺，它通过化学方法在裸铜表面上形成一层**皮膜，用以保护铜表面在常态环境中不生锈、氧化或化。这层膜在焊接过程中又能被助焊剂迅速，使铜表面与熔融焊锡紧密结合。
PCB板OSP膜具有防氧化、耐热冲击、耐湿性等特性，用于保护铜表面在常态环境中不再继续生锈/氧化/化等。OSP膜薄，通常在几十纳米左右的厚度，因此需要使用的方法来测量其厚度。
PCB板OSP膜厚测试方法：
1.普通切片法X-RAY膜厚仪：对于PCB板表面处理为化镍浸金（ENIG ）、热风整平（HASL）、浸锡（I-Sn）、浸银（I-Ag）等，镀层厚度量测均可以采用X-RAY膜厚仪或者切片方法进行，
量测PCB表面特定区域阻焊膜（绿油、黑油、白油等）厚度，也可以采用切片分析方法；
2.OSP膜厚仪：对于**保焊膜（OSP）厚度量测采用OSP膜厚仪进行。OSP膜厚仪可以量测厚度范围为350A~3μm；可研究单个小范围OSP镀膜，如PAD等；通过对样品特定区域的膜厚度2D分布图谱以确定镀层完整性及均匀性；
3.离子束切割+扫描电镜观察法：这种方法可以准确测量膜层厚度，并观察膜层的均匀度和微观形貌。
每种测试方法都有其特点和适用范围，选择哪种方法取决于具体的测试需求和条件。
优尔鸿信检测
以客户为中心，为客户提供全面的检测和校准服务。
实力：隶属于世界**企业。
：于2003年获得CNAS初次认可，2018年获得CMA资质。
精益求精：验室采用全进口设备，确保数据准确性。
快速：3工作日完成报告，打破业内规则。

在PCB（Printed Circuit Board，印制电路板）的制造与应用中，分层（Delamination）是一个常见的问题。分层指的是多层PCB内部不同材料之间的粘合界面出现分离的现象。这通常发生在层压过程中或是在PCB使用过程中由于热应力、机械应力、湿气等因素导致。分层不仅会影响PCB的电气性能，还可能导致整个电子设备的功能失效。
PCB分层的原因
材料不匹配：PCB由多层材料组成，包括基材、铜箔、预浸料（Prepreg）等。如果这些材料之间的热膨胀系数（CTE）不匹配，在温度变化时会产生不同的膨胀或收缩，从而导致内应力积累，终引起分层。
制造缺陷：生产过程中可能出现气泡、空洞、未完全固化的树脂等缺陷，这些缺陷会成为分层的起点。
环境因素：高温、高湿环境会加速材料的降解和老化，降低界面的粘接力，增加分层的风险。如，PCB在SMT回流焊接过程中，如果吸潮严重，会在高温下产生蒸汽压力，导致分层。
机械应力：外加的机械应力，如弯曲、冲击等，也会导致PCB内部产生裂纹，进而引发分层。
PCB分层检测
PCB分层时间测试是保证电子产品质量和可靠性的重要手段之一。通过科学合理地选择测试方法，准确分析测试结果，可以有效预防和减少PCB分层现象的发生，为电子产品提供较加稳定可靠的性能**。
优尔鸿信检测
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正规：于2003年获得CNAS初次认可，2018年获得CMA资质；
精益求精：验室采用全进口设备，确保数据准确性；
快速：3工作日完成报告，打破业内规则；
经验丰富：长期从事电子产品及零部件检测服务。
PCB板表面绝缘阻抗测试是一种用于评估PCB板表面绝缘性能的检测方法。在PCB的制造和组装过程中，由于绝缘层的质量对于防止电气故障具有至关重要的作用，因此它被广泛应用于电子制造、通信和电源电子设备等多个领域。

优尔鸿信检测技术（深圳）有限公司旗下的成都检测中心（华南检测中心成都分支）成立于1996年，配合高科技电子产品设计、验证、生产过程的检测需求组建科技实验室，创始团队汇集科技精英、凭借雄厚的技术背景和开拓创新精神，在一张白纸上点石成金。华南检测中心迄今发展成目**大功能22个专业的实验室，主要检测设备4300余台（套），拥有1500人的管理、技术人员团队，打造了一个提供快速、精密、准确检测能力、服务网络遍及全国的大型旗舰实验室。于2003年**中国国家合格评定**（CNAS）的初次认可，检测能力获得苹果、戴尔、惠普等**客户的认可，实现［一份报告、**通行］。 检测业务主要分为：尺寸量测与3D工程、仪器校准、材料分析（金属、塑料）、有害物质检测、电子零组件失效分析、物流包装测试、可靠性分析（气候、机械）、仿真分析、热传测试、声学测试、食材检测（微生物、理化检测）、儿童玩具测试、汽车材料及零部件检测、产品认证等。